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1. (WO2011158826) DISPOSITIF DE CONTRÔLE DE L'ASPECT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/158826    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/063579
Date de publication : 22.12.2011 Date de dépôt international : 14.06.2011
CIB :
G01N 21/956 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01), H05K 13/08 (2006.01)
Déposants : IO GIKEN CORPORATION [JP/JP]; 2266-22, Aza Anagahora, Oaza Shimoshidami, Moriyama-ku, Nagoya-shi, Aichi 4630003 (JP) (Tous Sauf US).
MATSUZAKI, Tomohiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MATSUZAKI, Tomohiko; (JP)
Mandataire : PATENA CORPORATION; Nagoya Daini Saitama Bldg., 2-28, Meieki 4-chome, Nakamura-ku, Nagoya-shi, Aichi 4500002 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-137714 16.06.2010 JP
Titre (EN) EXTERIOR INSPECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE CONTRÔLE DE L'ASPECT
(JA) 外観検査装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is an exterior inspection device which is capable of accurately inspecting the exterior of an object to be inspected and which is also capable of reducing manufacturing costs. The exterior inspection device is provided with: a liquid crystal color monitor (15) capable of irradiating light on a mounting base (7) comprising a plurality of types of constituent parts; and a digital camera (17) for imaging the mounting base (7) to obtain imaging information. In addition, in this exterior inspection device, a half mirror (19) is provided between the liquid crystal color monitor (15) and the mounting base (7), and a full mirror (18) is provided between the half mirror (19) and the digital camera (17). In this exterior inspection device, the liquid crystal color monitor (15) is provided at a position where the mounting base (7) can be irradiated by light passing through the half mirror (19), and the digital camera (17) is provided at a position capable of capturing an image of the mounting base (7) reflected in the half mirror (19), by way of the reflection from the full mirror (18).
(FR)L'invention concerne un dispositif de contrôle de l'aspect qui tout en permettant de contrôler de façon sûre un objet à contrôler, permet de réduire les coûts de fabrication. Le dispositif de l'invention est équipé : d'un écran couleur à cristaux liquides (15) permettant d'exposer à une lumière un substrat de montage (7) constitué de composants de différents types; et d'un appareil photographique numérique (17) qui acquiert des informations d'imagerie par capture d'images du substrat de montage (7). En outre, dans ce dispositif de contrôle de l'aspect, un miroir à réflexion partielle (19) est agencé entre l'écran couleur à cristaux liquides (15) et le substrat de montage (7), et un miroir à réflexion complète (18) est agencé entre le miroir à réflexion partielle (19) et l'appareil photographique numérique (17). L'écran couleur à cristaux liquides (15) est agencé en une position permettant une exposition du substrat de montage (7) à la lumière traversant le miroir à réflexion partielle (19). L'appareil photographique numérique (17) est agencé en une position permettant la capture d'images du substrat de montage (7) réfléchies sur le miroir à réflexion partielle (19) par l'intermédiaire d'une réflexion sur le miroir à réflexion complète (18).
(JA)【課題】検査対象の外観を正確に検査可能であるとともに、製造コストの低廉化が可能な外観検査装置を提供する。 【解決手段】本発明の外観検査装置は、複数種類の構成物からなる実装基板7に光を照射可能な液晶カラーモニタ15と、実装基板7を撮影して撮影情報を得るデジタルカメラ17とを備えている。また、この外観検査装置では、液晶カラーモニタ15と実装基板7との間にハーフミラー19が設けられており、ハーフミラー19とデジタルカメラ17との間にはフルミラー18が設けられている。この外観検査装置では、液晶カラーモニタ15はハーフミラー19を透過する光により実装基板7を照射可能な位置に設けられており、デジタルカメラ17は、フルミラー18の反射を介し、ハーフミラー19に反射した実装基板7の画像を撮影可能な位置に設けられている。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)