WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2011158342) DISPOSITIF DE MESURE DE RAYONNEMENTS AMBIANTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/158342    N° de la demande internationale :    PCT/JP2010/060182
Date de publication : 22.12.2011 Date de dépôt international : 16.06.2010
CIB :
G01T 1/24 (2006.01), G01T 1/16 (2006.01)
Déposants : NUCLEAR SERVICES COMPANY [JP/JP]; 2, Kandasurugadai 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1010062 (JP) (Tous Sauf US).
WADA Shigeyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : WADA Shigeyuki; (JP)
Mandataire : TAKEZAWA Soichi; First Kowa Bldg. 15-5, Shimbashi 1-chome Minato-ku, Tokyo 1050004 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ENVIRONMENTAL RADIATION MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE RAYONNEMENTS AMBIANTS
(JA) 環境放射線測定装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is an environmental radiation measurement device that can be made small and lightweight, that can be produced at reduced costs, and that can measure, with high accuracy, a wide range of environmental radiation from natural radiation levels to high dose levels by using semiconductor radiation-detecting elements which have hitherto been considered unsuitable. The disclosed environmental radiation measurement device includes: a supporting body that has a plurality of supporting faces provided equidistantly from and around a predetermined reference point; one or more radiation-detecting semiconductor elements provided on each supporting face of the supporting body; a measurement means that is electrically connected to the radiation-detecting semiconductor elements and that measures, separately or collectively for a plurality of elements, measurement values due to the incidence of radiation on the respective radiation-detecting semiconductor elements; and a data processing means that determines and outputs output information on the basis of the measurement values found by the measurement means and condition setting information stored in a memory.
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure de rayonnements ambiants de petite taille et léger, pouvant être produit à un faible coût et pouvant mesurer avec une grande précision des rayonnements ambiants très variés. Le dispositif est capable de mesurer des niveaux de rayonnements allant des niveaux naturels à des niveaux élevés, et ce grâce à des éléments semi-conducteurs détectant les rayonnements que l'on considérait jusqu'à présent inappropriés. Le dispositif de l'invention comporte : un corps de support qui présente une pluralité de faces de support disposée de manière équidistante autour d'un point de référence prédéterminé ; un ou plusieurs éléments semi-conducteurs détectant les rayonnements disposés sur chaque face de support du corps de support ; un moyen de mesure qui est électriquement connecté aux éléments semi-conducteurs détectant les rayonnements et qui mesure, séparément ou collectivement pour une pluralité d'éléments, des valeurs de mesure dues à l'incidence d'un rayonnement sur des éléments semi-conducteurs respectifs détectant les rayonnements ; et un moyen de traitement de données qui détermine et sort des informations sur la base des valeurs de mesure trouvées par le moyen de mesure et d'informations de réglage de condition stockées dans une mémoire.
(JA) 従来は不向きとされていた半導体放射線検出素子を用いて、自然放射線レベルから高線量レベルまでの広範囲の環境放射線を、高精度で測定することができ、しかも小型軽量化が可能で、製造コストを低減できるようにした環境放射線測定装置を提供する。 予め定めた基準点を中心として等距離に配設した複数の支持面を有する支持体と、前記支持体の各支持面に設けた1個または複数個の放射線検出用半導体素子と、前記各放射線検出用半導体素子に電気的に接続され、各放射線検出用半導体素子への放射線の入射に起因する計測値を、それぞれ、または複数分まとめて計測する計測手段と、前記計測手段の計測値と、メモリに記憶させた条件設定情報とに基づいて、出力情報を決定して出力するデータ処理手段とを備えるものとする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)