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1. (WO2011158273) SYSTÈME POUR MESURER ET SURVEILLER LA DÉFORMATION SUR DES OBJETS DÉFORMÉS PAR DES FORCES EXTERNES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/158273    N° de la demande internationale :    PCT/IT2011/000203
Date de publication : 22.12.2011 Date de dépôt international : 16.06.2011
CIB :
G01M 5/00 (2006.01), G01M 11/08 (2006.01)
Déposants : PERSI DEL MARMO, Paolo [IT/IT]; (IT)
Inventeurs : PERSI DEL MARMO, Paolo; (IT)
Mandataire : FERRIERO, Paolo; Barzano' & Zanardo Roma S.p.A. Via Piemonte, 26 I-00187 Roma (IT)
Données relatives à la priorité :
RM2010A000333 18.06.2010 IT
Titre (EN) SYSTEM FOR MEASURING AND MONITORING THE STRAIN ON OBJECTS STRESSED BY EXTERNAL FORCES
(FR) SYSTÈME POUR MESURER ET SURVEILLER LA DÉFORMATION SUR DES OBJETS DÉFORMÉS PAR DES FORCES EXTERNES
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a system for measuring and monitoring strains of a two- or tri-dimensional object, comprising at least one group of optical sensors to be applied on said object according to a predetermined geometric configuration, said at least one group comprising a number of sensors at least equal to the number of dimensions of said object, each of said optical sensors being provided within at least one fiber optic cable, an optical interrogator machine (M) for generating a light signal at a given frequency to be sent in said at least one fiber optic cable, and for receiving response signals from said optical sensors and for determining the wavelength's displacement of said optical sensors from their nominal value or calibration value determined at the time of fixing the fiber optic cable on the object itself when it is in rest condition, i.e. when said object is not subjected to any to any external force; and a computer (C) for calculating the object's strain with respect to at least one of two or three reference axes X, Y and Z; said computer (C) being connectable to said interrogator machine (M) and receiving data concerning the displacement's wavelength of each of said optical sensors with respect to their calibration values.
(FR)L'invention concerne un système pour mesurer et surveiller les déformations d'un objet bidimensionnel ou tridimensionnel, comprenant au moins un groupe de capteurs optiques à appliquer sur ledit objet selon une configuration géométrique prédéterminée, ledit groupe comprenant un nombre de capteurs au moins égal au nombre de dimensions dudit objet, chacun desdits capteurs optiques comprenant au moins un câble de fibre optique, une machine d'interrogation optique (M) pour générer un signal lumineux à une fréquence donnée à envoyer dans ledit câble de fibre optique, et pour recevoir des signaux de réponse desdits capteurs optiques et déterminer le déplacement de longueur d'onde desdits capteurs optiques depuis leur valeur nominale ou leur valeur d'étalonnage déterminée au moment de la fixation du câble de fibre optique sur l'objet lui-même lorsqu'il est en condition de repos, c'est-à-dire, lorsque ledit objet n'est soumis à aucune force externe ; et un ordinateur (C) pour calculer la déformation de l'objet par rapport à au moins un des deux ou trois axes de référence X, Y et Z ; ledit ordinateur (C) pouvant être connecté à ladite machine d'interrogation (M) et recevant des données concernant la longueur d'onde du déplacement de chacun desdits capteurs optiques par rapport à leurs valeurs d'étalonnage.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : italien (IT)