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1. (WO2011157815) ANALYSE DES MARQUES DE TREMPE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2011/157815 N° de la demande internationale : PCT/EP2011/060096
Date de publication : 22.12.2011 Date de dépôt international : 17.06.2011
CIB :
G01N 21/21 (2006.01) ,G01N 21/958 (2006.01) ,G01L 1/24 (2006.01) ,G01N 21/896 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
21
Propriétés affectant la polarisation
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
95
caractérisée par le matériau ou la forme de l'objet à analyser
958
Inspection de matériaux transparents
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
L
MESURE DES FORCES, DES CONTRAINTES, DES COUPLES, DU TRAVAIL, DE LA PUISSANCE MÉCANIQUE, DU RENDEMENT MÉCANIQUE OU DE LA PRESSION DES FLUIDES
1
Mesure des forces ou des contraintes, en général
24
en mesurant les variations des propriétés optiques du matériau quand il est soumis à une contrainte, p.ex. par l'analyse des contraintes par photo-élasticité
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
84
Systèmes spécialement adaptés à des applications particulières
88
Recherche de la présence de criques, de défauts ou de souillures
89
dans un matériau mobile, p.ex. du papier, des textiles
892
caractérisée par la crique, le défaut ou la caractéristique de l'objet examiné
896
Défauts optiques dans ou sur des matériaux transparents, p.ex. distorsions, criques de surface
Déposants :
DETRY, Pierre [BE/BE]; BE (UsOnly)
LUCCA, Nerio [BE/BE]; BE (UsOnly)
STEVENS, Dorian [BE/BE]; BE (UsOnly)
AGC GLASS EUROPE; Chaussée de La Hulpe, 166 B-1170 Bruxelles (Watermael-Boitsfort), BE (AllExceptUS)
Inventeurs :
DETRY, Pierre; BE
LUCCA, Nerio; BE
STEVENS, Dorian; BE
Mandataire :
LE VAGUERESE, Sylvain; Centre R&D Department Intellectual Property Rue de l'Aurore, 2 B-6040 Jumet, BE
Données relatives à la priorité :
BE 2010/036317.06.2010BE
Titre (EN) ANALYSIS OF QUENCH MARKS
(FR) ANALYSE DES MARQUES DE TREMPE
Abrégé :
(EN) The invention relates to a method for analyzing quench marks of glass sheets, including the determination of local stresses by a photoelasticimetry method, and the analysis of said stresses according to on one or more criteria preestablished in a reference database to correspond to the perception characteristics of the appearance of said marks.
(FR) L'invention concerne un procédé d'analyse des marques de trempe de vitrages, comprenant la détermination des contraintes locales par une technique de photo-élasticimétrie, et l'analyse de ces contraintes suivant un ou plusieurs critères préétablis dans une base de référence pour correspondre aux caractéristiques de perception de l'apparence de ces marques.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)