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1. (WO2011157040) PROCÉDÉ ET LECTEUR D'ANALYSE ET DE RÉPARATION DE CARTE À HAUTE FRÉQUENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/157040    N° de la demande internationale :    PCT/CN2010/080393
Date de publication : 22.12.2011 Date de dépôt international : 28.12.2010
CIB :
G06K 7/00 (2006.01)
Déposants : ZTE CORPORATION [CN/CN]; ZTE Plaza, Keji Road South, Hi-Tech Industrial Park, Nanshan Shenzhen, Guangdong 518057 (CN) (Tous Sauf US).
ZHU, Jianjie [CN/CN]; (CN) (US Seulement).
LIU, Wanli [CN/CN]; (CN) (US Seulement)
Inventeurs : ZHU, Jianjie; (CN).
LIU, Wanli; (CN)
Mandataire : AFD CHINA INTELLECTUAL PROPERTY LAW OFFICE; Suite B 1601A, 8 Xue Qing Rd. Haidian Beijing 100192 (CN)
Données relatives à la priorité :
201010207977.2 13.06.2010 CN
Titre (EN) METHOD AND READER FOR SCREENING AND REPAIRING HIGH-FREQUENCY CARD
(FR) PROCÉDÉ ET LECTEUR D'ANALYSE ET DE RÉPARATION DE CARTE À HAUTE FRÉQUENCE
(ZH) 筛选修复高频卡片的方法及阅读器
Abrégé : front page image
(EN)A method and reader for screening and repairing a high-frequency card are disclosed. The method involves: authenticating sectors under test in the high-frequency card under test by the reader using the first secret key KeyB, which is used for authenticating the issued sectors in the high-frequency card under test(103); if the authentication using the first secret key KeyB is failed, authenticating sectors under test in which the authentication using the first secret key KeyB is failed by the reader using a second secret key KeyA, which is used for authenticating the unissued sectors of the sectors under test(104); if the authentication using the second secret key KeyA is failed, determining by the reader that hardware of the high-frequency card under test is damaged(105). The solutions can identify which high-frequency cards are hardware-damaged or which are not hardware-damaged, thereby reducing the repair cost of the high-frequency cards.
(FR)L'invention concerne un procédé et un lecteur d'analyse et de réparation d'une carte à haute fréquence. Le procédé consiste à : authentifier des secteurs soumis au test dans la carte à haute fréquence soumise au test à l'aide du lecteur en utilisant la première clé secrète KeyB, qui est utilisée pour authentifier les secteurs défectueux dans la carte à haute fréquence soumise au test (103); si l'authentification utilisant la première clé secrète KeyB échoue, authentifier des secteurs soumis au test dans lesquels l'authentification effectuée à l'aide de la première clé secrète KeyB a échoué à l'aide du lecteur en utilisant une seconde clé secrète KeyA qui est utilisée pour authentifier les secteurs non défectueux parmi les secteurs soumis au test (104); si l'authentification utilisant la seconde clé secrète KeyA a échoué, faire en sorte que le lecture détermine que le matériel de la carte à haute fréquence soumise au test est endommagé (105). Les solutions proposées permettent d'identifier les cartes à haute fréquence comportant un matériel endommagé ou comportant un matériel non endommagé, cela réduisant le coût de réparation des cartes à haute fréquence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)