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1. (WO2011155447) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME, ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE PLAQUE DE VERRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/155447    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/062943
Date de publication : 15.12.2011 Date de dépôt international : 06.06.2011
CIB :
G01B 11/24 (2006.01), C03B 25/08 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01)
Déposants : Asahi Glass Company, Limited. [JP/JP]; 5-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008405 (JP) (Tous Sauf US).
OHTO Kimiaki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : OHTO Kimiaki; (JP)
Mandataire : OGURI Shohei; Eikoh Patent Firm, Toranomon East Bldg. 10F, 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-130387 07.06.2010 JP
Titre (EN) SHAPE MEASURING DEVICE, SHAPE MEASURING METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING GLASS PLATE
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME, ET PROCÉDÉ DE FABRICATION DE PLAQUE DE VERRE
(JA) 形状測定装置、形状測定方法、およびガラス板の製造方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a technique capable of measuring the three-dimensional shape of even an object having a mirror surface by applying a stereo method. A shape measuring device (1) comprises: a pattern position specifying unit (pre-movement pattern position specifying unit, post-movement pattern position specifying unit) (20); an imaging position calculation unit (pre-movement imaging position calculation unit, post-movement imaging position calculation unit) (30); a pixel region specifying unit (second pixel region specifying unit) (40); a tilt angle calculation unit (pre-movement tilt angle calculation unit, post-movement tilt angle calculation unit) (50); a height-direction coordinate determination unit (60); and an output unit (80).
(FR)L'invention concerne une technique qui permet de mesurer la forme tridimensionnelle même d'un objet ayant une surface miroir par application d'un procédé stéréo. Le dispositif de mesure de forme (1) comprend: une unité de spécification de la position d'un motif (unité de spécification de position de motif avant déplacement, unité de spécification de position de motif post-déplacement) (20); une unité de calcul de position d'imagerie (unité de calcul de position d'imagerie avant déplacement, unité de calcul de position d'imagerie post-déplacement) (30); une unité de spécification de région de pixels (seconde unité de spécification de région de pixels) (40); une unité de calcul d'angle d'inclinaison (unité de calcul d'angle d'inclinaison avant déplacement, unité de calcul d'angle d'inclinaison post-déplacement) (50); une unité de détermination de coordonnées hauteur-direction (60); et une unité de sortie (80).
(JA)鏡面を有する物体であってもステレオ法を応用し3次元形状を測定することができる技術を提供する。形状測定装置1は、パターン位置特定部20(移動前パターン位置特定部、移動後パターン位置特定部)、撮像位置算出部30(移動前撮像位置算出部、移動後撮像位置算出部)、画素領域特定部40(第2画素領域特定部)、傾斜角度算出部50(移動前傾斜角度算出部、移動後傾斜角度算出部)、高さ方向座標決定部60、および出力部80を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)