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1. (WO2011155271) PROCÉDÉ DE MESURE DE HAUTEUR DE POINT D'ÉVASEMENT DE TÊTE D'ENREGISTREMENT MAGNÉTIQUE PERPENDICULAIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/155271    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/059946
Date de publication : 15.12.2011 Date de dépôt international : 22.04.2011
CIB :
G11B 5/455 (2006.01), G11B 5/31 (2006.01)
Déposants : HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP) (Tous Sauf US).
MATSUMURA Toru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKAHASHI Toshio [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MATSUMURA Toru; (JP).
TAKAHASHI Toshio; (JP)
Mandataire : POLAIRE I.P.C.; 7-1, Hatchobori 2-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040032 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-134056 11.06.2010 JP
Titre (EN) METHOD FOR MEASURING FLARE POINT HEIGHT OF PERPENDICULAR MAGNETIC RECORDING HEAD
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE HAUTEUR DE POINT D'ÉVASEMENT DE TÊTE D'ENREGISTREMENT MAGNÉTIQUE PERPENDICULAIRE
(JA) 垂直磁気記録ヘッドのフレアポイントハイト測定方法
Abrégé : front page image
(EN)When measuring a magnetic field intensity change rate in order to estimate flare point height, measurement noise, etc., can obscure the difference in the rate of signal intensity change caused by the flare point dimensions, resulting in poor S/N ratios, making it difficult to estimate flare point height. By preparing samples having various flare points, and measuring magnetic field intensity at measurement points at which peak position spacing of a given standard can be obtained for each sample, accurately measuring flare point height in each of these samples using destructive measurement methods such as FIB and etching and preparing a database of the relationships between these flare point heights and magnetic field intensities, it is subsequently possible to estimate flare point height in that sample in a non-destructive manner by measuring the magnetic field intensity in the peak position spacing that becomes the new magnetic head sample standard and referring to the aforementioned database.
(FR)Lors d'une mesure de taux de variation d'intensité de champ magnétique de manière à estimer une hauteur de point d'évasement, un bruit de mesure, etc., peut masquer la différence dans le taux de variation d'intensité de signal due aux dimensions du point d'évasement, entraînant de faibles rapports signal sur bruit (S/N), ce qui rend difficile d'estimer la hauteur du point d'évasement. Selon l'invention, par préparation d'échantillons ayant divers points d'évasement, et mesure de l'intensité de champ magnétique au niveau de points de mesure en lesquels un espacement de position de pic d'une norme donnée peut être obtenu pour chaque échantillon, mesure précise d'une hauteur de point d'évasement dans chacun de ces échantillons à l'aide de méthodes de mesure destructrices telles que FIB et gravure et préparation d'une base de données des relations entre ces hauteurs de point d'évasement et des intensités de champ magnétique, il est ensuite possible d'estimer une hauteur de point d'évasement dans cet échantillon d'une manière non destructrice par mesure de l'intensité de champ magnétique dans l'espacement de position de pic qui devient la norme du nouvel échantillon de tête magnétique et consultation de la base de données susmentionnée.
(JA)フレアポイントハイト推定のための磁界強度変化率測定を行うと、フレアポイントハイト寸法による信号強度変化率の差が測定ノイズ等に埋もれてしまいSN比が上がらず、フレアポイントハイトの推定を行うことが困難である。さまざまなフレアポイントを持つサンプルを用意し、それぞれのサンプルの、ある基準のピーク位置間隔が得られる測定点における磁界強度を測定し、しかる後に、FIBやエッチング等の破壊的な測定法にてそれぞれのサンプルのフレアポイントハイトを正確に測定し、そのフレアポイントハイトと磁界強度の関係をデータベースとして用意しておけば、以降、新しい磁気ヘッドサンプルの基準となるピーク位置間隔における磁界強度を測定してやれば、前記データベースを参照して、そのサンプルのフレアポイントハイトを非破壊的に推定できる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)