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1. (WO2011155159) PROCÉDÉ DE PRODUCTION D'UN DISPOSITIF D'AFFICHAGE ÉLECTROLUMINESCENT ORGANIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/155159    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/003100
Date de publication : 15.12.2011 Date de dépôt international : 02.06.2011
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    02.03.2012    
CIB :
H05B 33/10 (2006.01), G09F 9/00 (2006.01), G09F 9/30 (2006.01), H01L 27/32 (2006.01), H01L 51/50 (2006.01), H05B 33/12 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
HIRAOKA, Tomomi; (US Seulement)
Inventeurs : HIRAOKA, Tomomi;
Mandataire : NII, Hiromori; c/o NII Patent Firm, 6F, Tanaka Ito Pia Shin-Osaka Bldg.,3-10, Nishi Nakajima 5-chome, Yodogawa-ku, Osaka-city, Osaka 5320011 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-130527 07.06.2010 JP
Titre (EN) METHOD FOR MANUFACTURING ORGANIC EL DISPLAY DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE PRODUCTION D'UN DISPOSITIF D'AFFICHAGE ÉLECTROLUMINESCENT ORGANIQUE
(JA) 有機EL表示装置の製造方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a method for manufacturing an organic EL display device in which subsequent shorting defects do not occur after electrical repair. In this method for manufacturing an organic EL display device, defective pixels having organic EL elements with shorting defects are specified from among a plurality of light-emitting pixels, and a reverse-bias voltage within a prescribed range is applied to the light-emitting pixels specified as defective pixels. The light emission brightness or pixel current of the light-emitting pixels is measured by applying a prescribed voltage for a fixed period to the light-emitting pixels after completion of the application of the reverse-bias voltage. A separate repair step is performed with respect to the light-emitting pixels in which the amount of change over time of the measured light emission brightness or pixel current is equal to or greater than a threshold value.
(FR)L'invention concerne un procédé de fabrication d'un dispositif d'affichage électroluminescent organique grâce auquel il ne se produit pas de défauts de court-circuitage après une réparation électrique. Dans ce procédé de fabrication d'un dispositif d'affichage électroluminescent organique, les pixels défectueux ayant des éléments électroluminescents organiques avec des défauts de court-circuitage sont identifiés sur la pluralité de pixels électroluminescents et une tension de polarisation inverse dans une plage prédéterminée est appliquée aux pixels électroluminescents spécifiés comme pixels défectueux. La luminosité de l'émission lumineuse ou le courant de pixel de ces pixels électroluminescents est mesuré en appliquant une tension prédéterminée pendant une période fixe aux pixels électroluminescents après achèvement de l'application de la tension de polarisation inverse. Une étape distincte de réparation est effectuée sur les pixels électroluminescents dont la variation de la luminosité de l'émission lumineuse ou du courant de pixel dans le temps est égale ou supérieure à une valeur de seuil.
(JA)電気的なリペア後に、後発的なショート欠陥を起こさない有機EL表示装置の製造方法を提供する。本発明の有機EL表示装置の製造方法は、複数の発光画素の中から、ショート欠陥のある有機EL素子を有する欠陥画素を特定し、欠陥画素と特定された発光画素に所定範囲の逆バイアス電圧を印加し、逆バイアス電圧印加が完了した発光画素に所定の電圧を一定期間印加して該発光画素の発光輝度または画素電流を測定し、測定された発光輝度または画素電流の経時的な変化量が閾値以上となる発光画素について別途リペア工程を施す。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)