WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2011153500) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE LA QUALITÉ DE LAME D'UNE LAME DE MICROSCOPE NUMÉRISÉE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2011/153500 N° de la demande internationale : PCT/US2011/039173
Date de publication : 08.12.2011 Date de dépôt international : 03.06.2011
CIB :
G06T 1/00 (2006.01) ,G01N 33/483 (2006.01) ,G01N 21/00 (2006.01) ,G06T 7/00 (2006.01) ,H04N 7/26 (2006.01)
Déposants : EICHHORN, Ole[US/US]; US (UsOnly)
PERZ, Cindy[US/US]; US (UsOnly)
APERIO TECHNOLOGIES, INC.[US/US]; 1360 Park Center Drive Vista, California 92081, US (AllExceptUS)
Inventeurs : EICHHORN, Ole; US
PERZ, Cindy; US
Mandataire : RAWLINS, Pattric J.; Procopio, Cory, Hargreaves & Savitch LLP 525 B Street, Suite 2200 San Diego, California 92101, US
Données relatives à la priorité :
61/396,97104.06.2010US
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD TO DETERMINE SLIDE QUALITY OF A DIGITIZED MICROSCOPE SLIDE
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE LA QUALITÉ DE LAME D'UNE LAME DE MICROSCOPE NUMÉRISÉE
Abrégé : front page image
(EN) A system that determines the quality of a digital microscope slide by analyzing digital slide images based on complexity and spatial frequencies. An example embodiment detailed in the application may provide visual feedback on the whole slide quality by overlaying the image with a color coded "heat map" of local area quality. A user provided with the overlap image may obtain both an absolute quality measurement for the whole image and quickly identity the quality variability within the slide.
(FR) La présente invention se rapporte à un système qui détermine la qualité d'une lame de microscope numérique grâce à l'analyse d'images de lame numériques sur la base de la complexité et de fréquences spatiales. Un exemple de mode de réalisation détaillé dans la demande peut offrir un retour visuel sur la qualité de l'ensemble de la lame en recouvrant l'image à l'aide d'une « carte thermique » chromocodée de qualité locale. Un utilisateur ayant reçu l'image recouverte peut obtenir à la fois une mesure de qualité absolue pour l'ensemble de l'image et rapidement identifier la variabilité de qualité dans la lame.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)