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1. (WO2011153126) CONCORDANCE D'UNE RÉFÉRENCE ÉTENDUE POUR MESURE DE PARAMÈTRES DANS UN SYSTÈME DE DÉTECTION OPTIQUE

Pub. No.:    WO/2011/153126    International Application No.:    PCT/US2011/038512
Publication Date: Fri Dec 09 00:59:59 CET 2011 International Filing Date: Wed Jun 01 01:59:59 CEST 2011
IPC: G01B 9/02
G01N 21/47
Applicants: LUNA INNOVATIONS INCORPORATED
FROGGATT, Mark, E.
KLEIN, Justin, W.
GIFFORD, Dawn, K.
REAVES, Matthew
BOS, Joseph, J.
SANG, Alexander, K.
Inventors: FROGGATT, Mark, E.
KLEIN, Justin, W.
GIFFORD, Dawn, K.
REAVES, Matthew
BOS, Joseph, J.
SANG, Alexander, K.
Title: CONCORDANCE D'UNE RÉFÉRENCE ÉTENDUE POUR MESURE DE PARAMÈTRES DANS UN SYSTÈME DE DÉTECTION OPTIQUE
Abstract:
L'invention concerne un système de mesure interférométrique qui permet de mesurer un paramètre au moyen d'au moins un guide d'ondes optiques. Une mémoire enregistre des données de diagramme interférométrique de référence associées à un segment du guide d'ondes optiques. Des circuits de détection interférométrique détectent et enregistrent des données de diagramme interférométrique de mesure associées au segment du guide d'ondes optiques au cours d'une mesure. Une plage spectrale de diagramme interférométrique de référence du guide d'ondes optiques est supérieure à une plage spectrale du diagramme interférométrique de mesure du guide d'ondes optiques. Un processeur décale soit les données de diagramme interférométrique de mesure, soit les données de diagramme interférométrique de référence, ou les deux, les unes par rapport aux autres, pour obtenir une concordance et pour utiliser cette concordance afin de mesurer le paramètre. Une déformation est un exemple de paramètre.