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1. (WO2011152445) DISPOSITIF DE CONTRÔLE À ÉLECTROLUMINESCENCE DESTINÉ À UN PANNEAU SOLAIRE ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE À ÉLECTROLUMINESCENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2011/152445 N° de la demande internationale : PCT/JP2011/062572
Date de publication : 08.12.2011 Date de dépôt international : 01.06.2011
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 : 13.02.2012
CIB :
H01L 31/04 (2006.01) ,G01N 21/66 (2006.01) ,G01N 21/88 (2006.01)
Déposants : SUGIHARA Kaoru[JP/JP]; JP (UsOnly)
International Test & Engineering Services Co., Ltd.[JP/JP]; 800, Ichimiyake, Yasu-shi, Shiga 5202392, JP (AllExceptUS)
Inventeurs : SUGIHARA Kaoru; JP
Mandataire : OKINAKA Jin; MY Edobori Building, 6th Floor, 25-31, Edobori 1-chome, Nishi-ku, Osaka-shi, Osaka 5500002, JP
Données relatives à la priorité :
2010-12856104.06.2010JP
Titre (EN) ELECTROLUMINESCENCE INSPECTION DEVICE FOR SOLAR PANEL AND ELECTROLUMINESCENCE INSPECTION METHOD
(FR) DISPOSITIF DE CONTRÔLE À ÉLECTROLUMINESCENCE DESTINÉ À UN PANNEAU SOLAIRE ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE À ÉLECTROLUMINESCENCE
(JA) 太陽電池パネルのEL検査装置、及びEL検査方法
Abrégé : front page image
(EN) Provided is an electroluminescence detection device for a solar panel that can be applied to large-scale solar panels in particular. Specifically, an electroluminescence detection device (100) for a solar panel (50) with multiple photoelectric cells is provided with a DC power source (1) that impresses a forward biased current on the solar panel (50) to be inspected and causes the emission of electroluminescence, an imaging unit (10) that images the solar panel (50) as it is electroluminescing, a correction unit (21) that corrects the picture of the imaged solar cell panel (50), a comparison unit (22) that compares the corrected picture and a standard template, and a determination unit (23) that determines whether or not the solar panel is acceptable on the basis of the comparison results. The comparison unit (22) generates a specific template depending on the solar cells to be inspected and masks solar cells that have a degree of similarity to the template that is greater than or equal to a designated value.
(FR) La présente invention a trait à un dispositif de détection à électroluminescence destiné à un panneau solaire qui peut être appliqué à des panneaux solaires de grande taille en particulier. Plus particulièrement, la présente invention a trait à un dispositif de détection à électroluminescence (100) destiné à un panneau solaire (50) qui est doté de multiples cellules photoélectriques, lequel dispositif est équipé d'un bloc d'alimentation en courant continu (1) qui applique un courant polarisé direct sur le panneau solaire (50) devant être contrôlé et qui permet l'émission de l'électroluminescence, d'une unité d'imagerie (10) qui forme une image du panneau solaire (50) lorsqu'il est électroluminescent, d'une unité de correction (21) qui corrige l'image du panneau solaire visualisé (50), d'une unité de comparaison (22) qui compare l'image corrigée et un modèle standard, et d'une unité de détermination (23) qui détermine si le panneau solaire est acceptable en fonction des résultats de la comparaison. L'unité de comparaison (22) génère un modèle spécifique en fonction des cellules solaires devant être contrôlées et masque les cellules solaires qui sont dotées d'un degré de similarité par rapport au modèle qui est supérieur ou égal à une valeur désignée.
(JA)  特に、大型の太陽電池パネルに対して適用可能な、太陽電池パネルのEL検査装置を提供する。 複数の太陽光発電セルを備えた太陽電池パネル50のEL検査装置100であって、検査対象の太陽電池パネル50に順バイアス電流を印加してEL発光させるDC電源1と、EL発光状態の太陽電池パネル50を撮影する撮影部10と、撮影した太陽電池パネルの画像を補正する補正部21と、補正後の画像と基準となるテンプレートとを比較する比較部22と、比較結果に基づいて、太陽電池パネルの良否を判定する判定部23と、を備える。比較部22は、テンプレートとして、検査対象の太陽光発電セルに応じた特定テンプレートを作成し、当該特定テンプレートと比較して所定値以上の類似度を有する太陽光発電セルをマスクする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)