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1. (WO2011151778) SUPPORT POUR ÉCHANTILLONS AYANT DES STRUCTURES QUI RÉFRACTENT LA LUMIÈRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2011/151778 N° de la demande internationale : PCT/IB2011/052371
Date de publication : 08.12.2011 Date de dépôt international : 30.05.2011
CIB :
G01N 21/03 (2006.01) ,B01L 3/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
01
Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
03
Détails de structure des cuvettes
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
01
PROCÉDÉS OU APPAREILS PHYSIQUES OU CHIMIQUES EN GÉNÉRAL
L
APPAREILS DE LABORATOIRE POUR LA CHIMIE OU LA PHYSIQUE, À USAGE GÉNÉRAL
3
Récipients ou ustensiles pour laboratoires, p.ex. verrerie de laboratoire; Compte-gouttes
Déposants :
NEIJZEN, Jacobus Hermanus Maria [NL/NL]; NL (UsOnly)
SCHLEIPEN, Johannes Joseph Hubertina Barbara [NL/NL]; NL (UsOnly)
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven, NL (AllExceptUS)
Inventeurs :
NEIJZEN, Jacobus Hermanus Maria; NL
SCHLEIPEN, Johannes Joseph Hubertina Barbara; NL
Mandataire :
VAN VELZEN, Maaike; High Tech Campus 44 NL-5600 AE Eindhoven, NL
Données relatives à la priorité :
10164755.002.06.2010EP
Titre (EN) SAMPLE CARRIER WITH LIGHT REFRACTING STRUCTURES
(FR) SUPPORT POUR ÉCHANTILLONS AYANT DES STRUCTURES QUI RÉFRACTENT LA LUMIÈRE
Abrégé :
(EN) The invention relates to a carrier (211) and an apparatus for optical manipulations of a sample in a sample chamber (2), wherein the carrier (211) comprises a contact surface (12) with a plurality of holes (52), particularly grooves (52). In a preferred embodiment, the holes (52) have two oppositely slanted opposing facets (53, 54) that include an angle (2a) of less than about (¾/¾)· 140°, with ¾ and n2 being the refractive indices of the carrier and the sample, respectively. Moreover, a light source may be arranged such that it generates an input light beam (LI) which traverses at least two holes (52) before leaving the carrier (211) as an output light beam (L2). Due to the steepness of the facets (53, 54) and/or the multiple passages of the input light beam (LI) through holes (52) it is possible to interact with a sample in the holes in an efficient way and to minimize losses of light.
(FR) Cette invention concerne un support (211) et un appareil pour les manipulations optiques d'un échantillon dans une chambre pour échantillon (2), ledit support (211) comprenant une surface de contact (12) comportant une pluralité de trous (52), en particulier, de rainures (52). Dans un mode de réalisation préféré, les trous (52) ont deux facettes opposées à inclinaison opposée (53, 54) qui comprennent un angle (2a) inférieur à environ (¾/¾)· 140°, ¾ et n2 étant les indices de réfraction du support et de l'échantillon, respectivement. De plus, une source lumineuse peut être placée de façon à générer un faisceau lumineux d'entrée (L1) qui traverse au moins deux trous (52) avant de quitter le support (211) sous la forme d'un faisceau lumineux de sortie (L2). Grâce à la raideur de pente des facettes (53, 54) et/ou aux multiples passages du faisceau lumineux d'entrée (L1) dans les trous (52), il est possible d'interagir de manière efficace avec un échantillon dans les trous pour minimiser les pertes de lumière.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)