WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2011149484) DISPOSITIF POUR PRODUIRE DES ZONES D'ANALYSE NORMALISÉES SUR REVÊTEMENTS ORGANIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/149484    N° de la demande internationale :    PCT/US2010/040327
Date de publication : 01.12.2011 Date de dépôt international : 29.06.2010
CIB :
G01N 17/04 (2006.01), G05B 19/402 (2006.01), G01N 1/28 (2006.01), B23Q 17/22 (2006.01), B25H 1/00 (2006.01)
Déposants : E.I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY [US/US]; 1007 Market Street Wilmington, Delaware 19898 (US) (Tous Sauf US).
LIN, Li [US/US]; (US) (US Seulement).
ZHANG, Shi, Hua [CN/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : LIN, Li; (US).
ZHANG, Shi, Hua; (US)
Mandataire : XU, Gann, G.; E.I. du Pont de Nemours and Company Legal Patent Records Center 4417 Lancaster Pike Wilmington, Delaware 19805 (US)
Données relatives à la priorité :
61/349,519 28.05.2010 US
Titre (EN) DEVICE FOR PRODUCING STANDARDIZED ASSAY AREAS ON ORGANIC COATINGS
(FR) DISPOSITIF POUR PRODUIRE DES ZONES D'ANALYSE NORMALISÉES SUR REVÊTEMENTS ORGANIQUES
Abrégé : front page image
(EN)The present disclosure is directed to a device for producing standardized assay areas on conductive substrates coated with organic coating layers. The device can be used to produce standardized assay areas for corrosion evaluation tests at an accelerated rate.
(FR)La présente invention porte sur un dispositif pour produire des zones d'analyse normalisées sur des substrats conducteurs, revêtus de couches de revêtement organique. Le dispositif peut être utilisé pour produire des zones d'analyse normalisées pour des essais d'évaluation de la corrosion à une vitesse accélérée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)