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1. (WO2011149074) PROCÉDÉ D'INSPECTION DE CONTINUITÉ DE FAISCEAU DE FILS, ET PROGRAMME D'INSPECTION DE CONTINUITÉ DE FAISCEAU DE FILS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/149074    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/062264
Date de publication : 01.12.2011 Date de dépôt international : 27.05.2011
CIB :
G06F 17/50 (2006.01), H01B 13/00 (2006.01), H02G 1/00 (2006.01), H02G 1/06 (2006.01)
Déposants : YAZAKI CORPORATION [JP/JP]; 4-28, Mita 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1088333 (JP) (Tous Sauf US).
FUNAKOSHI Shigeo; (US Seulement)
Inventeurs : FUNAKOSHI Shigeo;
Mandataire : HONDA Hironori; Eikoh Patent Firm, Toranomon East Bldg. 10F, 7-13, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1050003 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-123350 28.05.2010 JP
Titre (EN) WIRE HARNESS CONTINUITY INSPECTION METHOD, AND WIRE HARNESS CONTINUITY INSPECTION PROGRAM
(FR) PROCÉDÉ D'INSPECTION DE CONTINUITÉ DE FAISCEAU DE FILS, ET PROGRAMME D'INSPECTION DE CONTINUITÉ DE FAISCEAU DE FILS
(JA) ワイヤハーネス導通検査方法およびワイヤハーネス導通検査プログラム
Abrégé : front page image
(EN)The time needed for the success/failure assessment process and the accuracy of the success/failure assessment process are improved by determining the connector and wiring information, which needs to be created, for each section and by increasing or decreasing the number of patterns for the connector and wiring information for each section. A connector and wiring information for each section is at least written with one of the first wire harnesses which can be routed to main (1), one of the second wire harnesses which can be routed to main (2), and one of the third wire harnesses which can be routed to a sub. The aforementioned connector and wiring information for each section is created for all the combinations of the first wire harnesses, the second wire harnesses, and the third wire harnesses. Then, the created connector and wiring information for each section is subjected to an inspection to determine whether or not the wire connection has errors.
(FR)Selon l'invention, le temps nécessaire pour le processus d'évaluation de succès/échec et la précision du processus d'évaluation de succès/échec sont améliorés par détermination des informations de connecteur et de câblage, qui doivent être créées, pour chaque section et par augmentation ou réduction du nombre de motifs pour les informations de connecteur et de câblage pour chaque section. Des informations de connecteur et de câblage pour chaque section sont au moins écrites avec l'un des premiers faisceaux de fils qui peut être routé vers un élément principal (1), l'un des deuxièmes faisceaux de fils qui peut être routé vers un élément principal (2), et l'un des troisièmes faisceaux de fils qui peut être routé vers un élément secondaire. Les informations de connecteur et de câblage susmentionnées pour chaque section sont créées pour toutes les combinaisons des premiers faisceaux de fils, des deuxièmes faisceaux de fils et des troisièmes faisceaux de fils. Ainsi, les informations de connecteur et de câblage créées pour chaque section sont soumises à une inspection afin de déterminer si la connexion des fils comporte ou non des erreurs.
(JA) 作成すべき部位毎コネクタ・配線情報の決定、およびそのパターンの数の増減の調整をすることにより、正否判定工程に要する時間と正否判定工程の精度を最適化する。 メイン1に配索可能な第1のワイヤハーネスのいずれか一つと、メイン2に配索可能な第2のワイヤハーネスのいずれか一つと、サブに配索可能な第3のワイヤハーネスのいずれか一つと、について少なくとも記述された部位毎コネクタ・配線情報を、該第1のワイヤハーネスと該第2のワイヤハーネスと該第3のワイヤハーネスの組合せの数作成し、作成した部位毎コネクタ・配線情報に対して、電線の接続の誤りの有無を検査する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)