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1. (WO2011148726) INTERFÉROMÈTRE, ET DISPOSITIF DE SPECTROMÉTRIE À TRANSFORMÉE DE FOURIER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/148726    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/058984
Date de publication : 01.12.2011 Date de dépôt international : 11.04.2011
CIB :
G01J 3/45 (2006.01)
Déposants : Konica Minolta Holdings, Inc. [JP/JP]; 1-6-1, Marunouchi, Chiyoda-Ku, Tokyo 1000005 (JP) (Tous Sauf US).
HIRAO Yusuke [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : HIRAO Yusuke; (JP)
Mandataire : SANO Shizuo; Tenmabashi-Yachiyo Bldg. Bekkan, 2-6, Tenmabashi-Kyomachi, Chuo-Ku, Osaka-Shi, Osaka 5400032 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-122866 28.05.2010 JP
Titre (EN) INTERFEROMETER, AND FOURIER TRANSFORM SPECTROMETRY DEVICE
(FR) INTERFÉROMÈTRE, ET DISPOSITIF DE SPECTROMÉTRIE À TRANSFORMÉE DE FOURIER
(JA) 干渉計およびフーリエ変換分光分析装置
Abrégé : front page image
(EN)Reference light (semiconductor laser beam) from a reference light source (21) is converted into parallel light by means of a collimating optical system (22), is divided by means of a BS (13), and is reflected by means of a moving mirror (16) and a fixed mirror (15). Subsequently, the reference light is combined by means of the BS (13) and is guided to a second light detector (25) as reference interference light. A correction unit (30) detects and corrects, on the basis of the received light signal of the reference interference light from the second light detector (25), the angle between the light which entered to a first light detector (18) via the moving mirror (16) and the light which entered the first light detector (18) via the fixed mirror (15). In the abovementioned configuration, the size of the light emission surface of the reference light source (21) is smaller than the size of the light emission surface of the measurement light which enters the BS (13).
(FR)Selon l'invention, une lumière de référence (faisceau laser à semi-conducteurs) provenant d'une source de lumière de référence (21) est convertie en une lumière parallèle à l'aide d'un système optique de collimation (22), est divisée à l'aide d'un diviseur de faisceau (13), et est réfléchie à l'aide d'un miroir mobile (16) et d'un miroir fixe (15). Ensuite, la lumière de référence est synthétisée à l'aide du diviseur de faisceau (13), et est guidée vers un second détecteur de lumière (25) à titre de lumière d'interférence de référence. Une unité de correction (30) détecte et corrige, sur la base du signal de réception de lumière de la lumière d'interférence de référence provenant du second détecteur de lumière (25), l'inclinaison entre la lumière qui est entrée sur un premier détecteur de lumière (18) par l'intermédiaire du miroir mobile (16) et la lumière qui est entrée sur le premier détecteur de lumière (18) par l'intermédiaire du miroir fixe (15). Dans la configuration mentionnée ci-dessus, la taille de la surface d'émission de lumière de la source de lumière de référence (21) est inférieure à la taille de la surface d'émission de lumière de la lumière de mesure qui entre sur le diviseur de faisceau (13).
(JA) 参照光源(21)からの参照光(半導体レーザ光)は、コリメート光学系(22)によって平行光に変換され、BS(13)で分離され、移動鏡(16)および固定鏡(15)で反射された後、BS(13)で合成され、参照干渉光として第2の光検出器(25)に導かれる。補正部(30)は、第2の光検出器(25)からの参照干渉光の受光信号に基づいて、移動鏡(16)を介して第1の光検出器(18)に入射する光と、固定鏡(15)を介して第1の光検出器(18)に入射する光との間の傾きを検出して補正する。上記構成において、参照光源(21)の光出射面のサイズは、BS(13)に入射する測定光の光出射面のサイズよりも小さい。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)