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1. (WO2011148726) INTERFÉROMÈTRE, ET DISPOSITIF DE SPECTROMÉTRIE À TRANSFORMÉE DE FOURIER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2011/148726 N° de la demande internationale : PCT/JP2011/058984
Date de publication : 01.12.2011 Date de dépôt international : 11.04.2011
CIB :
G01J 3/45 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
28
Etude du spectre
45
Spectrométrie par interférence
Déposants :
平尾 祐亮 HIRAO Yusuke [JP/JP]; JP (UsOnly)
コニカミノルタホールディングス株式会社 Konica Minolta Holdings, Inc. [JP/JP]; 東京都千代田区丸の内1-6-1 1-6-1, Marunouchi, Chiyoda-Ku, Tokyo 1000005, JP (AllExceptUS)
Inventeurs :
平尾 祐亮 HIRAO Yusuke; JP
Mandataire :
佐野 静夫 SANO Shizuo; 大阪府大阪市中央区天満橋京町2-6天満橋八千代ビル別館 Tenmabashi-Yachiyo Bldg. Bekkan, 2-6, Tenmabashi-Kyomachi, Chuo-Ku, Osaka-Shi, Osaka 5400032, JP
Données relatives à la priorité :
2010-12286628.05.2010JP
Titre (EN) INTERFEROMETER, AND FOURIER TRANSFORM SPECTROMETRY DEVICE
(FR) INTERFÉROMÈTRE, ET DISPOSITIF DE SPECTROMÉTRIE À TRANSFORMÉE DE FOURIER
(JA) 干渉計およびフーリエ変換分光分析装置
Abrégé :
(EN) Reference light (semiconductor laser beam) from a reference light source (21) is converted into parallel light by means of a collimating optical system (22), is divided by means of a BS (13), and is reflected by means of a moving mirror (16) and a fixed mirror (15). Subsequently, the reference light is combined by means of the BS (13) and is guided to a second light detector (25) as reference interference light. A correction unit (30) detects and corrects, on the basis of the received light signal of the reference interference light from the second light detector (25), the angle between the light which entered to a first light detector (18) via the moving mirror (16) and the light which entered the first light detector (18) via the fixed mirror (15). In the abovementioned configuration, the size of the light emission surface of the reference light source (21) is smaller than the size of the light emission surface of the measurement light which enters the BS (13).
(FR) Selon l'invention, une lumière de référence (faisceau laser à semi-conducteurs) provenant d'une source de lumière de référence (21) est convertie en une lumière parallèle à l'aide d'un système optique de collimation (22), est divisée à l'aide d'un diviseur de faisceau (13), et est réfléchie à l'aide d'un miroir mobile (16) et d'un miroir fixe (15). Ensuite, la lumière de référence est synthétisée à l'aide du diviseur de faisceau (13), et est guidée vers un second détecteur de lumière (25) à titre de lumière d'interférence de référence. Une unité de correction (30) détecte et corrige, sur la base du signal de réception de lumière de la lumière d'interférence de référence provenant du second détecteur de lumière (25), l'inclinaison entre la lumière qui est entrée sur un premier détecteur de lumière (18) par l'intermédiaire du miroir mobile (16) et la lumière qui est entrée sur le premier détecteur de lumière (18) par l'intermédiaire du miroir fixe (15). Dans la configuration mentionnée ci-dessus, la taille de la surface d'émission de lumière de la source de lumière de référence (21) est inférieure à la taille de la surface d'émission de lumière de la lumière de mesure qui entre sur le diviseur de faisceau (13).
(JA)  参照光源(21)からの参照光(半導体レーザ光)は、コリメート光学系(22)によって平行光に変換され、BS(13)で分離され、移動鏡(16)および固定鏡(15)で反射された後、BS(13)で合成され、参照干渉光として第2の光検出器(25)に導かれる。補正部(30)は、第2の光検出器(25)からの参照干渉光の受光信号に基づいて、移動鏡(16)を介して第1の光検出器(18)に入射する光と、固定鏡(15)を介して第1の光検出器(18)に入射する光との間の傾きを検出して補正する。上記構成において、参照光源(21)の光出射面のサイズは、BS(13)に入射する測定光の光出射面のサイズよりも小さい。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)