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1. (WO2011148572) DISPOSITIF DE MESURE DES PROPRIÉTÉS DES DIFFUSEURS, DISPOSITIF DE MESURE DES COULEURS DE LA LUMIÈRE DIFFUSÉE DE PIERRES PRÉCIEUSES, DISPOSITIF DE MESURE DE L'ÉCLAT DE PIERRES PRÉCIEUSES, ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA DISTRIBUTION DE LA LUMINESCENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/148572    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/002513
Date de publication : 01.12.2011 Date de dépôt international : 28.04.2011
CIB :
G01N 21/87 (2006.01)
Déposants : NINOMIYA JEWELRY, co.,ltd. [JP/JP]; 3-20-4, Jingumae, Shibuya-ku Tokyo 1500001 (JP) (Tous Sauf US).
NINOMIYA, Hirofumi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KAWAGUCHI, Akio [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NINOMIYA, Hirofumi; (JP).
KAWAGUCHI, Akio; (JP)
Mandataire : HIROE AND ASSOCIATES, patent professional corporation; 4-3, Usa 3-chome, Gifu-shi, Gifu 5008368 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-119349 25.05.2010 JP
2010-254869 15.11.2010 JP
Titre (EN) DEVICE FOR MEASURING PROPERTIES OF SCATTERERS, COLOR MEASURING DEVICE FOR SCATTERED LIGHT OF GEMSTONES, DEVICE FOR MEASURING BRIGHTNESS OF GEMSTONES, AND DEVICE FOR MEASURING LUMINESCENCE DISTRIBUTION
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DES PROPRIÉTÉS DES DIFFUSEURS, DISPOSITIF DE MESURE DES COULEURS DE LA LUMIÈRE DIFFUSÉE DE PIERRES PRÉCIEUSES, DISPOSITIF DE MESURE DE L'ÉCLAT DE PIERRES PRÉCIEUSES, ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA DISTRIBUTION DE LA LUMINESCENCE
Abrégé : front page image
(EN)A device for measuring properties of scatterers which measures properties of a scatterer from a stereoscopic scattering distribution of the scatterer upon receiving an electromagnetic wave with a certain wavelength distribution is provided. In the device, a scatterer to be measured is placed on a specimen platform; the electromagnetic wave is irradiated onto the scatterer from at least either any one or more directions, or one or more continuous directions of a hypothetical spherical surface having the above-mentioned focal point as its center; scattering waves scattered by the scatterer and reflected off the paraboloidal mirror or projected onto the paraboloidal screen are imaged by the imaging means as planar imaging data; and from thus obtained imaging data, a stereoscopic distribution of the scattering waves generated by the scatterer is obtained so as to measure properties of the scatterer from the distribution result.
(FR)La présente invention concerne un dispositif permettant de mesurer les propriétés de diffuseurs qui mesure les propriétés d'un diffuseur à partir d'une distribution de diffusion stéréoscopique du diffuseur au moment de la réception d'une onde électromagnétique ayant une certaine distribution de longueur d'onde. Dans le dispositif, un diffuseur à mesurer est placé sur une plateforme à échantillon; le diffuseur est irradié par l'onde électromagnétique depuis au moins soit une ou plusieurs directions, soit une ou plusieurs directions continues d'une surface sphérique hypothétique ayant le foyer susmentionné en son centre; des ondes de diffusions diffusées par le diffuseur et réfléchies par le miroir parabolique ou projetées sur l'écran parabolique sont imagées par les moyens d'imagerie sous la forme de données d'imagerie planaire; et à partir des données d'imagerie ainsi obtenues, une distribution stéréoscopique des ondes de diffusion générées par le diffuseur est obtenue afin de mesurer les propriétés du diffuseur à partir du résultat de la distribution.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)