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1. (WO2011148407) MICROSCOPE CONFOCAL À RÉFLEXION SPECTRALE ET LARGE BANDE ET MÉTHODE PERTINENTE D'IMAGERIE SPECTRALE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/148407    N° de la demande internationale :    PCT/IT2011/000181
Date de publication : 01.12.2011 Date de dépôt international : 30.05.2011
CIB :
G02B 17/06 (2006.01), G02B 27/10 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01)
Déposants : CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERCHE [IT/IT]; Consiglio Nazionale Delle Ricerche Piazzale Aldo Moro, 7 I-00185 Roma (IT) (Tous Sauf US).
BERTANI, Francesca, Romana [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
BOTTI, Elisabetta [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
CILLOCO, Francesco [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
COSTANZO, Antonio [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
FERRARI, Luisa [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
SELCI, Stefano [IT/IT]; (IT) (US Seulement)
Inventeurs : BERTANI, Francesca, Romana; (IT).
BOTTI, Elisabetta; (IT).
CILLOCO, Francesco; (IT).
COSTANZO, Antonio; (IT).
FERRARI, Luisa; (IT).
SELCI, Stefano; (IT)
Mandataire : PERRONACE, Andrea; Barzanò & Zanardo Roma S.p.A. Via Piemonte, 26 I-00187 Roma (IT)
Données relatives à la priorité :
RM2010A000286 28.05.2010 IT
Titre (EN) CONFOCAL, WIDE BAND SPECTRAL REFLECTION MICROSCOPE, AND RELEVANT SPECTRAL IMAGING METHOD
(FR) MICROSCOPE CONFOCAL À RÉFLEXION SPECTRALE ET LARGE BANDE ET MÉTHODE PERTINENTE D'IMAGERIE SPECTRALE
Abrégé : front page image
(EN)This invention concerns a wideband spectral reflectance confocal microscope comprising a laser source (LS), a beam expander (BE) inserted immediately after the laser source (LS), a beam splitter (BS) in an adequately transparent material through the whole spectral interval emitted by the laser source (LS), a system (OB1) to focus the laser beam on the sample (S) presenting a working distance greater than 5mm and a numerical aperture greater than 0.25, a collection system (M, OB2, PH) and an analysis system (AS) of the laser beam reflected by the sample and transmitted by the beam splitter (BS), said analysis system (AS) comprising a chromatic dispersion subsystem capable of forming the spectrum to be analysed, the microscope being characterized in that: said laser source (LS) is a source that emits simultaneously at several wavelengths in the visible and infrared regions; said focusing system (OB1 ) is free of chromatic aberration; said beam splitter (BS) is positioned at 45° in respect of the laser beam direction; said collection system (M, OB2, PH) is free of chromatic aberration; so that at each analysed point of the sample (S) corresponds unambiguously a frequency response spectrum collected by the collection system (M, OB2, PH). The invention concerns as well a spectral imaging method of a sample (S) by means of a wideband spectral reflectance confocal microscope, besides the utilisation of the microscope of this invention for the same imaging.
(FR)L'invention porte sur un microscope confocal à réflexion spectrale à large bande comprenant: une source laser(LS); un expanseur de faisceau (BE) inséré immédiatement après la source laser (LS); un diviseur de faisceau (BS) fait d'un matériau adéquatement transparent sur la totalité de l'intervalle spectral émis par la source laser (LS); un système (OB1) focalisant le faisceau laser sur l'échantillon, et présentant une distance de travail de plus de 5 mm et une ouverture numérique supérieure à 0,25; un système collecteur (M, OB2, PH); et un système d'analyse (AS) du faisceau laser reflété par l'échantillon et transmis par le diviseur de faisceau (BS), ledit système d'analyse (AS) comprenant un sous-système de dispersion chromatique capable de former le faisceau à analyser. Le microscope se caractérise en ce que: la source laser (LS) est une source qui émet simultanément sur plusieurs longueurs d'onde des régions visible et IR; ledit système collecteur (M, OB2, PH) est exempt d'aberrations chromatiques; ledit diviseur de faisceau (BS) fait un angle de 45° avec la direction du faisceau laser; ledit système collecteur (M, OB2, PH) étant exempt d'aberrations chromatiques, à chaque point analysé de l'échantillon (S) corresponds sans ambiguité un spectre de réponse recueilli par le système collecteur (M, OB2, PH). L'invention concerne également une méthode d'imagerie spectrale d'un échantillon (S) au moyen d'un microscope confocal à réflexion spectrale à large bande en plus de l'utilisation du microscope de l'invention pour la même imagerie.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : italien (IT)