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1. (WO2011129068) MÉTHODE DE MESURE D'EXCENTRICITÉ

Pub. No.:    WO/2011/129068    International Application No.:    PCT/JP2011/002018
Publication Date: 20 oct. 2011 International Filing Date: 5 avr. 2011
IPC: G01M 11/00
Applicants: Konica Minolta Advanced Layers, Inc.
コニカミノルタアドバンストレイヤー株式会社
OGURA, Kazuyuki
小椋 和幸
OKITSU, Masahiro
興津 昌広
OGAWA, Youichi
小川 洋一
TAKADA, Kyu
高田 球
Inventors: OGURA, Kazuyuki
小椋 和幸
OKITSU, Masahiro
興津 昌広
OGAWA, Youichi
小川 洋一
TAKADA, Kyu
高田 球
Title: MÉTHODE DE MESURE D'EXCENTRICITÉ
Abstract:
L'invention concerne une méthode de mesure d'excentricité, dans laquelle on mesure une première position d'une image d'une source lumineuse formée par la réflexion par une première surface optique (S2), une deuxième position prédéterminée associée à une deuxième surface optique (S3), et on calcule une excentricité relative entre les deux surfaces optiques en fonction de la première et de la deuxième position (S5). Dans la méthode de mesure d'excentricité, l'excentricité peut être mesurée par le même système optique de mesure quel que soit le rayon de courbure de la surface optique d'un élément optique.