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1. (WO2011127270) PROCÉDÉS DE DÉTECTION DE CIRCUIT DE DÉFAUT D'ARC ÉLECTRIQUE, SYSTÈMES ET APPAREIL INCLUANT UN RETARD
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/127270    N° de la demande internationale :    PCT/US2011/031563
Date de publication : 13.10.2011 Date de dépôt international : 07.04.2011
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    08.02.2012    
CIB :
H02H 1/00 (2006.01), H02H 3/027 (2006.01)
Déposants : SIEMENS INDUSTRY, INC. [US/US]; 3333 Old Milton Parkway Alpharetta, Georgia 30005-4437 (US) (Tous Sauf US).
NAYAK, Amit [IN/US]; (US) (US Seulement).
KINSEL, Hugh T. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : NAYAK, Amit; (US).
KINSEL, Hugh T.; (US)
Mandataire : de la ROSA, Jose R.; Siemens Corporation- Intellectual Property Dept. 170 Wood Avenue South Iselin, New Jersey 08830 (US).
BROCKLEHURST, Adam; P.O. Box 22 16 34 80506 Munich (DE)
Données relatives à la priorité :
61/321,932 08.04.2010 US
13/081,146 06.04.2011 US
Titre (EN) ARC FAULT CIRCUIT DETECTION METHODS, SYSTEMS, AND APPARATUS INCLUDING DELAY
(FR) PROCÉDÉS DE DÉTECTION DE CIRCUIT DE DÉFAUT D'ARC ÉLECTRIQUE, SYSTÈMES ET APPAREIL INCLUANT UN RETARD
Abrégé : front page image
(EN)In one aspect, a method of electrical arc fault detection when high frequency (e.g., RF noise) is present is disclosed. The method includes determining if first arcing criterion is met, determining if delay criterion is met, implementing a delay for a delay period if the delay criterion is met, and determining if second arcing criterion is met. If the second arcing criterion is met, then a trip signal may be sent to trip the circuit breaker. In another aspect, the method includes determining if first arcing criterion is met, starting delay period if the first arcing criterion is met, determining if delay criterion is met, and if the delay criterion is met, determining if second arcing criterion is met. An arc fault detection apparatus adapted to carry out the methods, and systems including the arc fault detection apparatus are disclosed, as are various other aspects.
(FR)Selon un aspect, la présente invention a trait à un procédé de détection de défaut d'arc électrique lorsqu'une haute fréquence (par exemple, bruit RF) est présente. Le procédé inclut les étapes consistant à déterminer si un premier critère de formation d'arc est satisfait, à déterminer si un critère de retard est satisfait, à mettre en œuvre un retard pour une période de retard si le critère de retard est satisfait, et à déterminer si un second critère de formation d'arc est satisfait. Si le second critère de formation d'arc est satisfait, alors un signal de déclenchement peut être envoyé de manière à déclencher le disjoncteur de circuit. Selon un autre aspect, le procédé inclut les étapes consistant à déterminer si un premier critère de formation d'arc est satisfait, à démarrer une période de retard si le premier critère de formation d'arc est satisfait, à déterminer si un critère de retard est satisfait, et, si le critère de retard est satisfait, à déterminer si un second critère de formation d'arc est satisfait. La présente invention a en outre trait à un appareil de détection de défaut d'arc électrique conçu pour effectuer les procédés et à des systèmes incluant l'appareil de détection de défaut d'arc électrique, ainsi qu'à de divers autres aspects.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)