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1. (WO2011126044) PROCÉDÉ DE PRODUCTION ET DISPOSITIF DE PRODUCTION POUR ARTICLE PRÉSENTANT UNE STRUCTURE FINEMENT ACCIDENTÉE SUR SA SURFACE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/126044    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/058698
Date de publication : 13.10.2011 Date de dépôt international : 06.04.2011
CIB :
B29C 33/58 (2006.01), B29C 33/70 (2006.01), B29C 59/02 (2006.01), H01L 21/027 (2006.01)
Déposants : Mitsubishi Rayon Co., Ltd. [JP/JP]; 1-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008253 (JP) (Tous Sauf US).
OZAWA Satoru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NAKAI Yusuke [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : OZAWA Satoru; (JP).
NAKAI Yusuke; (JP)
Mandataire : SHIGA Masatake; 1-9-2, Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 1006620 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-090456 09.04.2010 JP
Titre (EN) PRODUCTION METHOD AND PRODUCTION DEVICE FOR ARTICLE HAVING MICRORELIEF STRUCTURE ON SURFACE THEREOF
(FR) PROCÉDÉ DE PRODUCTION ET DISPOSITIF DE PRODUCTION POUR ARTICLE PRÉSENTANT UNE STRUCTURE FINEMENT ACCIDENTÉE SUR SA SURFACE
(JA) 微細凹凸構造を表面に有する物品の製造方法および製造装置
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a method for producing an article having a microrelief structure on the surface thereof, wherein a microrelief structure on the surface of a roll-shaped mold, the surface of which has been treated by release agent, is transferred onto a surface of a film (article body), and wherein the method comprises transferring the finely rugged structure to the surface of the film, measuring the infrared spectroscopic spectrum of the surface of the roll-shaped mold from which the film has been removed, and assessing whether the status of the release agent is good or bad on the surface of the roll-shaped mold on the basis of the infrared spectroscopic spectrum. The production method and the production device for an article having a microrelief structure on the surface thereof enables the easy online monitoring of the status of the release agent on the surface of the mold, and can suppress reductions in productivity.
(FR)La présente invention concerne un procédé permettant de produire un article présentant une structure finement accidentée sur sa surface, une structure finement accidentée sur la surface d'un moule laminé dont la surface a été traitée par un agent de détachement étant transférée sur une surface d'un film (corps d'article). Le procédé comprend les étapes consistant à transférer la structure finement accidentée sur la surface du film, à mesurer le spectre spectroscopique infrarouge de la surface du moule laminé duquel le film a été retiré, et à évaluer si le statut de l'agent de détachement est bon ou mauvais sur la surface du moule laminé sur la base du spectre spectroscopique infrarouge. Grâce au procédé de production et au dispositif de production pour un article présentant une structure finement accidentée sur sa surface, le statut de l'agent de détachement sur la surface du moule peut être facilement contrôlé en ligne, et une baisse de productivité peut être évitée.
(JA) 本発明は、表面が離型剤で処理されたロール状モールドの表面の微細凹凸構造を、フィルム(物品本体)の表面に転写して、微細凹凸構造を表面に有する物品を製造する際に、微細凹凸構造をフィルムの表面に転写すること、前記フィルムをモールドから剥離した後のロール状モールドの表面の赤外分光スペクトルを測定すること、および前記赤外分光スペクトルに基づいてロール状モールドの表面の離型剤の状態の良否を判定することを含む、微細凹凸構造を表面に有する物品の製造方法に関する。本発明は、モールド表面の離型剤の状態をオンラインで簡易にモニタリングでき、生産性の低下を抑えることができる、微細凹凸構造を表面に有する物品の製造方法および製造装置を提供することができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)