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1. (WO2011125109) PROCÉDÉ D'AFFICHAGE POUR UN DISPOSITIF D'AFFICHAGE ÉLECTROLUMINESCENT (EL) ORGANIQUE ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE EL ORGANIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/125109    N° de la demande internationale :    PCT/JP2010/002475
Date de publication : 13.10.2011 Date de dépôt international : 05.04.2010
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    23.08.2010    
CIB :
G09G 3/30 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), H01L 51/50 (2006.01), H05B 33/10 (2006.01)
Déposants : PANASONIC CORPORATION [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501 (JP) (Tous Sauf US).
SEGAWA, Yasuo; (US Seulement).
NAKAMURA, Tetsurou; (US Seulement).
ONO, Shinya; (US Seulement)
Inventeurs : SEGAWA, Yasuo; .
NAKAMURA, Tetsurou; .
ONO, Shinya;
Mandataire : NII, Hiromori; c/o NII Patent Firm 6F, Tanaka Ito Pia Shin-Osaka Bldg. 3-10, Nishi Nakajima 5-chome Yodogawa-ku, Osaka-city Osaka 5320011 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) DISPLAY METHOD FOR AN ORGANIC EL DISPLAY DEVICE, AND ORGANIC EL DISPLAY DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'AFFICHAGE POUR UN DISPOSITIF D'AFFICHAGE ÉLECTROLUMINESCENT (EL) ORGANIQUE ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE EL ORGANIQUE
(JA) 有機EL表示装置の表示方法および有機EL表示装置
Abrégé : front page image
(EN)The disclosed display method for an organic EL display device can reduce the measurement takt time between the measurement of each pixel's brightness and the determination of correction parameters. In said method, a circuit substrate provided with a plurality of pixel units (10) is prepared, each pixel unit including a drive transistor (T1) and a retention capacitor (Cs). A threshold voltage for the drive transistor (T1) in a pixel unit (10) is stored in that retention capacitor (Cs) and read out using an array tester (200). A prescribed signal voltage is obtained by adding a first correction parameter for the pixel unit (10) to a signal voltage corresponding to a level that is part of either a mid-level region or a high-level region of representative voltage-brightness characteristics. Said prescribed signal voltage is applied to the drive transistor (T1), a measurement device (60) is used to measure the resulting brightness of the pixel unit (10), and a second correction parameter is determined such that the measured brightness becomes equal to a reference brightness obtained by inputting the aforementioned prescribed signal voltage to the representative voltage-brightness characteristics.
(FR)Selon l'invention, le procédé d'affichage pour un dispositif d'affichage EL organique permet de réduire le temps takt de mesure entre la mesure de la luminosité de chaque pixel et la détermination de paramètres de correction. Dans ledit procédé, un substrat de circuit doté d'une pluralité d'unités de pixels (10) est préparé, chaque unité de pixel comprenant un transistor de commande (T1) et un condensateur de rétention (Cs). Une tension de seuil du transistor de commande (T1) dans une unité de pixel (10) est stockée dans ce condensateur de rétention (Cs) et est lue en utilisant un dispositif d'essai de réseau (200). Une tension de signal prescrite est obtenue en ajoutant un premier paramètre de correction de l'unité de pixel (10) à une tension de signal qui correspond à un niveau qui fait partie d'une région à mi-niveau ou d'une région à niveau élevé de caractéristiques de tension-luminosité représentatives. Ladite tension de signal prescrite est appliquée au transistor de commande (T1), un dispositif de mesure (60) est utilisé de façon à mesurer la luminosité résultante de l'unité de pixel (10), et un second paramètre de correction est déterminé de telle sorte que la luminosité mesurée devienne égale à une luminosité de référence obtenue en entrant la tension de signal prescrite mentionnée ci-dessus dans les caractéristiques de tension-luminosité représentatives.
(JA) 各画素の輝度測定を行ってから補正パラメータを求めるまでの測定タクトを短縮できる有機EL表示装置の表示方法は、駆動トランジスタ(T1)と、保持コンデンサ(Cs)とを含む画素部(10)を複数備えた回路基板を準備し、画素部(10)に含まれる保持コンデンサ(Cs)に駆動トランジスタ(T1)の閾値電圧を保持させ、アレイテスタ(200)を用いて読み出し、前記代表電圧-輝度特性の中階調域及び高階調域のいずれかに属する1階調に対応する信号電圧に画素部(10)の第1の補正パラメータを加算して所定の信号電圧を得て、所定の信号電圧を、駆動トランジスタ(T1)に印加して、画素部(10)から発光される輝度を測定装置(60)を用いて測定し、測定された輝度が、代表電圧-輝度特性に前記所定の信号電圧を入力した場合に得られる基準輝度となるよう第2の補正パラメータを求める。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)