WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2011122765) DISPOSITIF DE RÉGLAGE DU POTENTIEL DE RÉFÉRENCE ET DISPOSITIF DE MESURE AINSI ÉQUIPÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/122765    N° de la demande internationale :    PCT/KR2011/001006
Date de publication : 06.10.2011 Date de dépôt international : 16.02.2011
CIB :
G01N 27/30 (2006.01), G01N 27/26 (2006.01)
Déposants : SNU R&DB FOUNDATION [KR/KR]; San 56-1, Sillim-dong, Gwanak-gu Seoul 151-919 (KR) (Tous Sauf US).
AHN, Jin Hong [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
PARK, Young June [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : AHN, Jin Hong; (KR).
PARK, Young June; (KR)
Mandataire : NAM, Jung Kil; #501, 5Fl., Sam-gong Bldg. 58-7 Banpo-dong, Seocho-gu Seoul 137-803 (KR)
Données relatives à la priorité :
10-2010-0028922 31.03.2010 KR
10-2010-0051966 01.06.2010 KR
Titre (EN) REFERENCE POTENTIAL ADJUSTMENT DEVICE AND A MEASURING DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME
(FR) DISPOSITIF DE RÉGLAGE DU POTENTIEL DE RÉFÉRENCE ET DISPOSITIF DE MESURE AINSI ÉQUIPÉ
(KO) 기준전위 조절 장치 및 이를 구비하는 측정 장치
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed in one embodiment is a reference potential adjustment device. The reference potential adjustment device comprises: a reference potential measuring part for measuring the potential of a solution; a counter electrode which is disposed inside the solution and varies the electrical potential of the solution via a redox reaction with the solution; and a comparator which compares a measured voltage provided from the reference potential measuring part with a reference voltage provided from a reference power source, and generates a control signal for adjusting the reactivity between the counter electrode and the solution. The reference potential measuring part comprises: a reference electrode; a common electrode which is disposed with a space apart from the reference electrode; and at least one nanostructure which is in contact with the reference electrode and the common electrode, and of which the electrical conductivity varies in accordance with the potential of the solution.
(FR)L'invention concerne dans un mode de réalisation un dispositif de réglage du potentiel de référence. Le dispositif de réglage du potentiel de référence comprend : une partie de mesure du potentiel de référence servant à mesurer le potentiel d'une solution; une contre-électrode qui est disposée à l'intérieur de la solution et fait varier le potentiel électrique de la solution via une réaction redox avec la solution; et un comparateur qui compare une tension mesurée fournie par la partie de mesure du potentiel de référence à une tension de référence fournie par une source de puissance de référence, et génère un signal de contrôle servant à régler la réactivité entre la contre-électrode et la solution. La partie de mesure du potentiel de référence comprend : une électrode de référence; une électrode commune qui est disposée avec un espace par rapport à l'électrode de référence; et au moins une nanostructure qui est en contact avec l'électrode de référence et l'électrode commune, et dont la conductivité électrique varie en fonction du potentiel de la solution.
(KO)일 실시 예에 있어서, 기준 전위 조절 장치가 개시된다. 기준 전위 조절 장치는 용액의 전위를 측정하는 기준전위측정부, 상기 용액 내에 배치되고 상기 용액과의 산화환원반응을 통하여 상기 용액의 전위를 변화시키는 상대전극, 및 상기 기준전위측정부로부터 제공되는 측정전압과 기준전원으로부터 제공되는 기준전압을 서로 비교하여 상대전극과 상기 용액 사이의 반응성을 조절하는 제어신호를 발생시키는 비교기를 포함한다. 상기 기준전위측정부는 기준전극, 상기 기준전극과 이격되어 배치되는 공통전극, 및 상기 기준전극과 상기 공통전극과 접촉하며 상기 용액의 전위에 따라 전기전도도가 변화하는 적어도 하나의 나노구조물을 포함한다.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)