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1. (WO2011122607) DISPOSITIF ET SYSTÈME D'ANALYSE DE SPÉCIMENS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/122607    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/057765
Date de publication : 06.10.2011 Date de dépôt international : 29.03.2011
CIB :
G01N 35/02 (2006.01), G01N 35/04 (2006.01)
Déposants : SYSMEX CORPORATION [JP/JP]; 5-1, Wakinohama-Kaigandori 1-chome, Chuo-ku, Kobe-shi, Hyogo 6510073 (JP) (Tous Sauf US).
ARKRAY, Inc. [JP/JP]; 57 Nishi Aketa-cho, Higashi-Kujo, Minami-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6018045 (JP) (Tous Sauf US).
MIZUMOTO Toru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IZUMI Takayoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TSUTSUMIDA Keisuke [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NAKAJIMA Shinya [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MIZUMOTO Toru; (JP).
IZUMI Takayoshi; (JP).
TSUTSUMIDA Keisuke; (JP).
NAKAJIMA Shinya; (JP)
Mandataire : SHIBANO Masanori; Shibano Patent Office, 9F Mitsui Seimei Kobe Sannomiya Bldg., Ito-machi 119, Chuo-ku, Kobe-shi, Hyogo 6500032 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-076525 30.03.2010 JP
2010-125142 31.05.2010 JP
Titre (EN) SPECIMEN ANALYSIS DEVICE AND SPECIMEN ANALYSIS SYSTEM
(FR) DISPOSITIF ET SYSTÈME D'ANALYSE DE SPÉCIMENS
(JA) 検体分析装置および検体分析システム
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed are a specimen analysis device and a specimen analysis system capable of efficiently carrying out processing of specimens. A specimen analysis device (1) comprises a first measuring device (11) and a second measuring device (12) that measure specimens, and a conveyor device (20) that conveys a specimen rack (50) that retains a plurality of specimen containers (51). A first supply location (26a), whereat the specimens are supplied to the first measuring device (11), and a second supply location (26b), whereat the specimens are supplied to the second measuring device (12), are set upon the conveyor device (20). The distance between the first supply location (26a) and the second supply location (26b) is set to a multiple of the distance between adjacent specimen containers (51) that are retained in the specimen rack (50). It is thus possible to simultaneously position the specimen containers (51) that are retained in two different retainer parts of the specimen rack (50) at the first supply location (26a) and the second supply location (26b), allowing simultaneous processing of two specimens, and allowing efficient processing of the specimens.
(FR)Dispositif et système d'analyse de spécimens capables de procéder efficacement au traitement de spécimens. Le dispositif d'analyse de spécimens (1) selon l'invention comprend un premier dispositif de mesure (11) et un second dispositif de mesure (12) qui mesurent des spécimens, et un dispositif de transport (20) qui transporte un porte-spécimens (50) qui contient une pluralité de récipients pour spécimens (51). Une première position de chargement (26a) au niveau de laquelle les spécimens sont chargés dans le premier dispositif de mesure (11), et une seconde position de chargement (26b) au niveau de laquelle les spécimens sont chargés dans le second dispositif de mesure (12) sont définies sur le dispositif de transport (20). La distance entre la première position de chargement (26a) et la seconde position de chargement (26b) est fixée à un multiple de la distance entre des récipients pour spécimens adjacents (51) dans le porte-spécimens (50). Il est, par conséquent, possible de positionner simultanément les récipients pour spécimens (51) qui occupent deux places différentes dans le porte-spécimens (50) au niveau de la première position de chargement (26a) et de la seconde position de chargement (26b), ce qui permet de traiter simultanément deux spécimens, et permet un traitement efficace des spécimens.
(JA)【課題】検体に対する処理を効率的に行うことが可能な検体分析装置および検体分析システムを提供する。 【解決手段】検体分析装置1は、検体を測定する第1測定装置11と第2測定装置12と、複数の検体容器51を保持した検体ラック50を搬送する搬送装置20を備える。搬送装置20には、第1測定装置11に検体を供給する第1供給位置26aと、第2測定装置12に検体を供給する第2供給位置26bが設定されている。第1供給位置26aと第2供給位置26bの距離は、検体ラック50に保持された隣接する検体容器51の距離の倍数に設定される。これにより、検体ラック50の異なる2つの保持部に保持された検体容器51を、第1供給位置26aと第2供給位置26bに同時に位置付けることができるため、2つの検体を同時に処理することができ、検体に対する処理を効率的に行うことができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)