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1. (WO2011122164) PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE L'ÉTAT DE CHARGE, DISPOSITIF D'ESTIMATION DE L'ÉTAT DE CHARGE ET SYSTÈME ÉLECTRIQUE À ACCUMULATEUR SECONDAIRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/122164    N° de la demande internationale :    PCT/JP2011/053683
Date de publication : 06.10.2011 Date de dépôt international : 21.02.2011
CIB :
G01R 31/36 (2006.01)
Déposants : FURUKAWA ELECTRIC CO.,LTD. [JP/JP]; 2-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008322 (JP) (Tous Sauf US).
FURUKAWA AUTOMOTIVE SYSTEMS INC. [JP/JP]; 1000, Amago, Koura-cho, Inukami-gun, Shiga 5220242 (JP) (Tous Sauf US).
SATO, Etsuzo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
IWANE, Noriyasu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SATO, Etsuzo; (JP).
IWANE, Noriyasu; (JP)
Mandataire : MATSUSHITA, Makoto; Apuri Shinyokohama Building 5F. 2-5-19, Shinyokohama Kohoku-ku, Yokohama-shi Kanagawa 2220033 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-079617 30.03.2010 JP
Titre (EN) STATE-OF-CHARGE ESTIMATION METHOD, STATE-OF-CHARGE ESTIMATION DEVICE, AND SECONDARY-BATTERY POWER SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D'ESTIMATION DE L'ÉTAT DE CHARGE, DISPOSITIF D'ESTIMATION DE L'ÉTAT DE CHARGE ET SYSTÈME ÉLECTRIQUE À ACCUMULATEUR SECONDAIRE
(JA) 充電率推定方法、充電率推定装置及び二次電池電源システム
Abrégé : front page image
(EN)In the disclosed state-of-charge estimation method, state-of-charge estimation device, and secondary-battery power system, initial values for voltage-characteristic adjustment parameters, which can approximate with high precision the change over time of the open-circuit voltage of a secondary battery, are set appropriately, making it possible to quickly and stably converge on values for said adjustment parameters and estimate the state of charge of the secondary battery. In step S14, selected voltage measurements V1, VMbi (i = 1 … (n−1)), and VMm are used to compute initial values A0i (i = 1 … n) for adjustment parameter Ai (i = 1 … n). In step S15, an integer sequence bi (i = 1 … (n−1)) and a real number C are used to compute initial values B0i (i = 1 … n) for adjustment parameter Bi (i = 1 … n). In step S16, the initial value V0c for adjustment parameter Vc is computed.
(FR)L'invention concerne un procédé d'estimation de l'état de charge, un dispositif d'estimation de l'état de charge et un système électrique à accumulateur secondaire, dans lequel des valeurs initiales de paramètres d'ajustement de la caractéristique de tension, qui peuvent s'approcher avec une grande précision de la variation dans le temps de la tension en circuit ouvert d'un accumulateur secondaire, sont définis de manière appropriée, ce qui permet de converger rapidement et de manière stable vers des valeurs desdits paramètres d'ajustement et d'estimer l'état de charge de l'accumulateur secondaire. Dans l'étape S14, des mesures sélectionnées de tension V1, Vmbi (i = 1,..., (n-1)) et VMm sont utilisées pour calculer des valeurs initiales A0i (i = 1 … n) pour le paramètre d'ajustement Ai (i = 1 … n). À l'étape S15, une séquence d'entiers bi (i = 1... (n-1)) et un nombre réel C sont utilisés pour calculer des valeurs initiales B0i (i = 1 … n) pour le paramètre d'ajustement Bi (i = 1 … n). À l'étape S16, la valeur initiale V0c pour le paramètre d'ajustement Vc est calculée.
(JA)二次電池の開回路電圧の時間変化を高精度で近似できる電圧特性式の調整パラメータの初期値を好適に設定することにより、調整パラメータの収束値を短時間でかつ安定的に決定して充電率を推定することができる充電率推定方法、充電率推定装置及び二次電池電源システムを提供する。ステップS14で、選択電圧測定値V1、VMbi((i=1~(n-1))、及びVMmを用いて、調整パラメータAi(i=1~n)の初期値A0i(i=1~n)を算出する。また、ステップS15で、整数列bi(i=1~(n-1))と実数Cを用いて、調整パラメータBi(i=1~n)の初期値B0i(i=1~n)を算出する。さらに、ステップS16で、調整パラメータVcの初期値V0cを算出する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)