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1. (WO2011121862) DISPOSITIF D'INSPECTION DE PANNEAU TACTILE CAPACITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/121862    N° de la demande internationale :    PCT/JP2010/072952
Date de publication : 06.10.2011 Date de dépôt international : 21.12.2010
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    22.03.2011    
CIB :
G01R 31/02 (2006.01), G06F 3/041 (2006.01), G06F 3/044 (2006.01)
Déposants : International Test & Engineering Services Co., Ltd. [JP/JP]; 800, Ichimiyake, Yasu-shi, Shiga 5202392 (JP) (Tous Sauf US).
IKEDA Teruo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
OHE Kenichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SUGIHARA Kaoru [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : IKEDA Teruo; (JP).
OHE Kenichi; (JP).
SUGIHARA Kaoru; (JP)
Mandataire : OKINAKA Jin; MY Edobori Building, 6th Floor, 25-31, Edobori 1-chome, Nishi-ku, Osaka-shi, Osaka 5500002 (JP)
Données relatives à la priorité :
2010-074251 29.03.2010 JP
Titre (EN) INSPECTION DEVICE OF CAPACITIVE TOUCH PANEL AND METHOD OF INSPECTION
(FR) DISPOSITIF D'INSPECTION DE PANNEAU TACTILE CAPACITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION
(JA) 静電容量式タッチパネルの検査装置、及び検査方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is an inspection device which is preferably applicable to a capacitive touch panel. The inspection device (100) of the capacitive touch panel (1) which includes a plurality of electrodes, comprises: a monitor means (20) for monitoring a voltage between both ends of the capacitance between an electrode to be measured (2) which is subject to inspection and a specific opposite electrode (4) among opposite electrodes (3) which are opposed to the electrode to be measured (2); and a determination means (30) for determining the state of the electrode to be measured (2) based on the monitoring results. Further provided is a signal input means for inputting a signal into each of the plurality of electrodes, wherein the signal input means inputs an inspection pattern signal into the electrode to be measured (2), while inputting a pulse signal synchronized with the inspection pattern signal into the electrodes other than the electrode to be measured (2) and the specific opposite electrode (4).
(FR)L'invention porte sur un dispositif d'inspection qui peut être appliqué, de préférence, à un panneau tactile capacitif. Le dispositif d'inspection (100) du panneau tactile capacitif (1), qui comprend une pluralité d'électrodes, comprend : un moyen de surveillance (20) destiné à surveiller une tension entre les deux extrémités de la capacité entre une électrode à mesurer (2) qui est soumise à une inspection et une électrode opposée spécifique (4) parmi des électrodes opposées (3) qui sont opposées à l'électrode à mesurer (2) ; et un moyen de détermination (30) destiné à déterminer l'état de l'électrode à mesurer (2) sur la base des résultats de surveillance. En outre, l'invention porte sur un moyen d'entrée de signal destiné à entrer un signal dans chacune de la pluralité d'électrodes, le moyen d'entrée de signal entrant un signal de modèle d'inspection dans l'électrode à mesurer (2), tout en entrant un signal d'impulsion synchronisé avec le signal de modèle d'inspection dans les électrodes autres que l'électrode à mesurer (2) et l'électrode opposée spécifique (4).
(JA) 静電容量式タッチパネルに好適に適用可能な検査装置を提供する。 複数の電極を備えた静電容量式タッチパネル1の検査装置100であって、検査対象となる被測定電極2と当該被測定電極2に対抗する対抗電極3のうちの特定対抗電極4との間における静電容量の両端間の電圧を監視する監視手段20と、監視結果に基づいて被測定電極2の状態を判定する判定手段30とを備える。更に、複数の電極に対して信号を個別に入力可能な信号入力手段を備え、信号入力手段は、被測定電極2に対して検査パターン信号を入力するとともに、被測定電極2及び特定対抗電極4以外の電極に対して検査パターン信号と同期したパルス信号を入力する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)