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1. (WO2011121219) PROCEDE ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE LA QUALITE OPTIQUE D'UN SUBSTRAT TRANSPARENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2011/121219    N° de la demande internationale :    PCT/FR2011/050675
Date de publication : 06.10.2011 Date de dépôt international : 28.03.2011
CIB :
G01N 21/958 (2006.01)
Déposants : SAINT-GOBAIN GLASS FRANCE [FR/FR]; 18 avenue d'Alsace F-92400 Courbevoie (FR) (Tous Sauf US).
PICHON, Michel [FR/FR]; (FR) (US Seulement).
DAVENNE, Franc [FR/FR]; (FR) (US Seulement)
Inventeurs : PICHON, Michel; (FR).
DAVENNE, Franc; (FR)
Mandataire : SAINT-GOBAIN RECHERCHE; 39 quai Lucien Lefranc F-93300 Aubervilliers (FR)
Données relatives à la priorité :
1052477 01.04.2010 FR
Titre (EN) METHOD AND DEVICE FOR ANALYZING THE OPTICAL QUALITY OF A TRANSPARENT SUBSTRATE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF D'ANALYSE DE LA QUALITE OPTIQUE D'UN SUBSTRAT TRANSPARENT
Abrégé : front page image
(EN)This device (1) for analyzing a transparent surface of a substrate (2) comprises a gauge (10) disposed facing the surface of the substrate to be measured. The gauge is formed on a support (11) of small and large extensions. A camera (3) is provided so as to take at least one image of the gauge deformed by the measured substrate. A system (4) for illuminating the gauge and means (5) for processing the image and for numerical analysis are linked to the camera (3). The support (11) is of oblong form, the gauge is monodirectional, consisting of a pattern (10) which extends along the smallest extension of the support. The pattern (10) is periodic transversely to the small extension, and the camera is linear.
(FR)Ce dispositif d'analyse (1) d'une surface transparente d'un substrat (2) comporte une mire (10) disposée en regard de la surface du substrat à mesurer. La mire est formée sur un support (11) de petite et grande extensions. Une caméra (3) est prévue pour prendre au moins une image de la mire déformée par le substrat mesuré. Un système d'éclairage (4) de la mire et des moyens de traitement (5) de l'image et d'analyse numérique sont reliés à la caméra (3). Le support (11) est de forme oblongue, la mire est monodirectionnelle en étant constituée d'un motif (10) qui s'étend selon la plus petite extension du support. Le motif (10) est périodique transversalement à la petite extension, et la caméra est linéaire.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)