(EN) Disclosed is a magnetic field obtaining device, wherein a measuring unit (21), which is sufficiently long compared to the width of the region to be measured, is disposed on the measuring surface which satisfies z = α, and wherein in the X' direction orthogonal to the longitudinal direction of the measuring unit (21) scanning is repeated while changing multiple times the angle θ which is defined between a given reference direction on the measuring surface and the longitudinal direction of the measuring unit (21). Subsequently, a measured value f (x', θ) which is obtained by repeating the scanning, is Fourier transformed, where the coordinate parameter in the X' direction is defined as x', and g(kx', θ) is obtained (where kx' is the number of waves in the X' direction). Then, by substituting g (kx', θ) into a given two-dimensional potential obtaining formula, ϕ(x, y, α) representing a two-dimensional potential on the measuring surface is obtained. Thus, a two-dimensional potential can be measured with higher resolution using the measuring unit (21) which is sufficiently large compared to the width of the region to be measured.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'obtention de champ magnétique. Dans ledit dispositif, une unité de mesure (21), qui est suffisamment longue par rapport à la largeur de la région destinée à être mesurée, est disposée sur la surface de mesure qui satisfait z = α, et, dans la direction X' orthogonale à la direction longitudinale de l'unité de mesure (21), le balayage est répété tout en changeant à plusieurs reprises l'angle θ qui est défini entre une direction de référence donnée sur la surface de mesure et la direction longitudinale de l'unité de mesure (21). Par la suite, une valeur mesurée f(x', θ), qui est obtenue en répétant le balayage, subit une transformée de Fourier, le paramètre de coordonnées dans la direction X' étant défini par x', et g(kx', θ) est obtenu (kx' étant le nombre d'ondes dans la direction X'). Ensuite, en remplaçant (kx', θ) dans une formule donnée d'obtention de potentiel bidimensionnel, ϕ(x, y, α) représentant un potentiel bidimensionnel sur la surface de mesure est obtenu. Ainsi, un potentiel bidimensionnel peut être mesuré à une résolution plus élevée en utilisant l'unité de mesure (21) qui est suffisamment importante par rapport à la largeur de la région destinée à être mesurée.
(JA) 磁場取得装置では、測定の対象領域の幅に比べて十分に長い測定部（２１）がｚ＝αを満たす測定面上に配置され、測定面上の所定の基準方向と、測定部（２１）の長手方向とがなす角度θを複数通りに変更しつつ、測定部（２１）の長手方向に垂直なＸ'方向への走査が繰り返される。続いて、Ｘ'方向の座標パラメータをｘ'として、走査の繰り返しにより取得される測定値ｆ（ｘ'，θ）をフーリエ変換することにより、ｇ（ｋｘ'，θ）が取得される（ただし、ｋｘ'はＸ'方向の波数である。）。そして、所定の２次元ポテンシャル取得式にｇ（ｋｘ'，θ）を代入することにより、測定面における２次元ポテンシャルを示すφ（ｘ，ｙ，α）が求められる。これにより、対象領域の幅に比べて十分に大きい測定部（２１）を用いて、２次元のポテンシャルの測定を高い分解能にて行うことができる。
