Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2011108543 - DISPOSITIF D'OBTENTION DE POTENTIEL, MICROSCOPE À CHAMP MAGNÉTIQUE, DISPOSITIF D'INSPECTION ET PROCÉDÉ D'OBTENTION DE POTENTIEL

Numéro de publication WO/2011/108543
Date de publication 09.09.2011
N° de la demande internationale PCT/JP2011/054635
Date du dépôt international 01.03.2011
CIB
G01R 33/02 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
02Mesure de la direction ou de l'intensité de champs magnétiques ou de flux magnétiques
A61B 5/055 2006.1
ANÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
BDIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
5Mesure servant à établir un diagnostic; Identification des individus
05Mesure pour établir un diagnostic au moyen de courants électriques ou de champs magnétiques
055faisant intervenir la résonance magnétique nucléaire ou électronique , p.ex. formation d'images par résonance magnétique
G01R 29/14 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
29Dispositions pour procéder aux mesures ou à l'indication de grandeurs électriques n'entrant pas dans les groupes G01R19/-G01R27/165
12Mesure du champ électrostatique
14Mesure de la distribution du champ
G01R 33/34 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
33Dispositions ou appareils pour la mesure des grandeurs magnétiques
20faisant intervenir la résonance magnétique
28Détails des appareils prévus dans les groupes G01R33/44-G01R33/6498
32Systèmes d'excitation ou de détection, p.ex. utilisant des signaux radiofréquence
34Détails de structure, p.ex. résonateurs
CPC
G01N 24/08
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
24Investigating or analyzing materials by the use of nuclear magnetic resonance, electron paramagnetic resonance or other spin effects
08by using nuclear magnetic resonance
G01R 29/14
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
29Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
12Measuring electrostatic fields ; or voltage-potential
14Measuring field distribution
G01R 33/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
G01R 33/10
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
10Plotting field distribution ; ; Measuring field distribution
G01R 33/3808
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
33Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
20involving magnetic resonance
28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
38Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field
3808Magnet assemblies for single-sided MR wherein the magnet assembly is located on one side of a subject only; Magnet assemblies for inside-out MR, e.g. for MR in a borehole or in a blood vessel, or magnet assemblies for fringe-field MR
Déposants
  • 国立大学法人神戸大学 National University Corporation Kobe University [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 木村 建次郎 KIMURA, Kenjiro [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 木村 建次郎 KIMURA, Kenjiro
Mandataires
  • 松阪 正弘 MATSUSAKA, Masahiro
Données relatives à la priorité
2010-04421801.03.2010JP
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) POTENTIAL OBTAINING DEVICE, MAGNETIC FIELD MICROSCOPE, INSPECTION DEVICE AND METHOD OF OBTAINING POTENTIAL
(FR) DISPOSITIF D'OBTENTION DE POTENTIEL, MICROSCOPE À CHAMP MAGNÉTIQUE, DISPOSITIF D'INSPECTION ET PROCÉDÉ D'OBTENTION DE POTENTIEL
(JA) ポテンシャル取得装置、磁場顕微鏡、検査装置およびポテンシャル取得方法
Abrégé
(EN) Disclosed is a magnetic field obtaining device, wherein a measuring unit (21), which is sufficiently long compared to the width of the region to be measured, is disposed on the measuring surface which satisfies z = α, and wherein in the X' direction orthogonal to the longitudinal direction of the measuring unit (21) scanning is repeated while changing multiple times the angle θ which is defined between a given reference direction on the measuring surface and the longitudinal direction of the measuring unit (21). Subsequently, a measured value f (x', θ) which is obtained by repeating the scanning, is Fourier transformed, where the coordinate parameter in the X' direction is defined as x', and g(kx', θ) is obtained (where kx' is the number of waves in the X' direction). Then, by substituting g (kx', θ) into a given two-dimensional potential obtaining formula, ϕ(x, y, α) representing a two-dimensional potential on the measuring surface is obtained. Thus, a two-dimensional potential can be measured with higher resolution using the measuring unit (21) which is sufficiently large compared to the width of the region to be measured.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d'obtention de champ magnétique. Dans ledit dispositif, une unité de mesure (21), qui est suffisamment longue par rapport à la largeur de la région destinée à être mesurée, est disposée sur la surface de mesure qui satisfait z = α, et, dans la direction X' orthogonale à la direction longitudinale de l'unité de mesure (21), le balayage est répété tout en changeant à plusieurs reprises l'angle θ qui est défini entre une direction de référence donnée sur la surface de mesure et la direction longitudinale de l'unité de mesure (21). Par la suite, une valeur mesurée f(x', θ), qui est obtenue en répétant le balayage, subit une transformée de Fourier, le paramètre de coordonnées dans la direction X' étant défini par x', et g(kx', θ) est obtenu (kx' étant le nombre d'ondes dans la direction X'). Ensuite, en remplaçant (kx', θ) dans une formule donnée d'obtention de potentiel bidimensionnel, ϕ(x, y, α) représentant un potentiel bidimensionnel sur la surface de mesure est obtenu. Ainsi, un potentiel bidimensionnel peut être mesuré à une résolution plus élevée en utilisant l'unité de mesure (21) qui est suffisamment importante par rapport à la largeur de la région destinée à être mesurée.
(JA)  磁場取得装置では、測定の対象領域の幅に比べて十分に長い測定部(21)がz=αを満たす測定面上に配置され、測定面上の所定の基準方向と、測定部(21)の長手方向とがなす角度θを複数通りに変更しつつ、測定部(21)の長手方向に垂直なX'方向への走査が繰り返される。続いて、X'方向の座標パラメータをx'として、走査の繰り返しにより取得される測定値f(x',θ)をフーリエ変換することにより、g(kx',θ)が取得される(ただし、kx'はX'方向の波数である。)。そして、所定の2次元ポテンシャル取得式にg(kx',θ)を代入することにより、測定面における2次元ポテンシャルを示すφ(x,y,α)が求められる。これにより、対象領域の幅に比べて十分に大きい測定部(21)を用いて、2次元のポテンシャルの測定を高い分解能にて行うことができる。
Documents de brevet associés
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international