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1. WO2011070817 - DISPOSITIF POUR SPECTROMÉTRIE COMPORTANT UNE STRUCTURE AGENCÉE AVEC DES VIDES SUPPORTÉE SUR CELUI-CI, ÉLÉMENT DE CADRE UTILISÉ POUR CELUI-CI, ET SPECTROMÈTRE

Numéro de publication WO/2011/070817
Date de publication 16.06.2011
N° de la demande internationale PCT/JP2010/062678
Date du dépôt international 28.07.2010
CIB
G01N 21/01 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
01Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
G01N 21/35 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
35en utilisant la lumière infrarouge
CPC
G01J 3/02
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
G01J 3/0202
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
0202Mechanical elements; Supports for optical elements
G01J 3/0227
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
02Details
0205Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
0227using notch filters
G01N 21/3581
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
35using infra-red light
3581using far infra-red light; using Terahertz radiation
Déposants
  • 株式会社村田製作所 MURATA MANUFACTURING CO., LTD. [JP]/[JP] (AllExceptUS)
  • 近藤 孝志 KONDO, Takashi [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 瀧川 和大 TAKIGAWA, Kazuhiro [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 神波 誠治 KAMBA, Seiji [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 藤井 高志 FUJII, Takashi [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 中山 喜平 NAKAYAMA, Kihei [JP]/[JP] (UsOnly)
  • 渡邉 洋右 WATANABE, Yosuke [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 近藤 孝志 KONDO, Takashi
  • 瀧川 和大 TAKIGAWA, Kazuhiro
  • 神波 誠治 KAMBA, Seiji
  • 藤井 高志 FUJII, Takashi
  • 中山 喜平 NAKAYAMA, Kihei
  • 渡邉 洋右 WATANABE, Yosuke
Mandataires
  • 特許業務法人深見特許事務所 Fukami Patent Office, p.c.
Données relatives à la priorité
2009-27923809.12.2009JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) DEVICE FOR SPECTROMETRY HAVING VOID-ARRANGED STRUCTURE HELD THERETO, FRAME MEMBER USED FOR SAME, AND SPECTROMETER
(FR) DISPOSITIF POUR SPECTROMÉTRIE COMPORTANT UNE STRUCTURE AGENCÉE AVEC DES VIDES SUPPORTÉE SUR CELUI-CI, ÉLÉMENT DE CADRE UTILISÉ POUR CELUI-CI, ET SPECTROMÈTRE
(JA) 空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器
Abrégé
(EN)
Disclosed is a device for spectrometry including a frame member and a void-arranged structure (1) held by the frame member. The void-arranged structure (1) has a plurality of voids and can select a specific frequency from irradiated electromagnetic waves. The frame member is configured to hold the void-arranged structure (1) in a state with a tensile force.
(FR)
L'invention porte sur un dispositif pour spectrométrie, lequel dispositif comprend un élément de cadre et une structure agencée avec des vides (1) supportée par l'élément de cadre. La structure agencée avec des vides (1) comporte une pluralité de vides, et peut sélectionner une fréquence spécifique parmi les ondes électromagnétiques rayonnées. L'élément de cadre est configuré de façon à supporter la structure agencée avec des vides (1) dans un état avec une force de traction.
(JA)
 本発明は、枠部材、および、該枠部材によって保持された前記空隙配置構造体(1)を含む分光測定用デバイスであって、前記空隙配置構造体(1)は、複数の空隙を有し、照射された電磁波の中から特定の周波数を選択できるものであり、前記枠部材は、前記空隙配置構造体(1)を張力を持たせた状態で保持することができる、分光測定用デバイスである。
Également publié en tant que
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