Traitement en cours

Veuillez attendre...

Paramétrages

Paramétrages

Aller à Demande

1. WO2011059245 - DISPOSITIF ET PROCÉDÉ POUR MESURER LA PROPRIÉTÉ D'UN MATÉRIAU DE CONDUCTION DE CHALEUR PAR CONTACT

Numéro de publication WO/2011/059245
Date de publication 19.05.2011
N° de la demande internationale PCT/KR2010/007960
Date du dépôt international 11.11.2010
CIB
G01N 25/18 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
25Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens thermiques
18en recherchant la conductivité thermique
G01N 25/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
25Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens thermiques
CPC
G01N 25/18
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
25Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
18by investigating thermal conductivity
Déposants
  • 광주과학기술원 GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY [KR]/[KR] (AllExceptUS)
  • 이선규 LEE, Sun Kyu [KR]/[KR] (UsOnly)
  • 김정균 KIM, Jung Kyun [KR]/[KR] (UsOnly)
  • 와타루나가야마 WATARU, Nakayama [JP]/[JP] (UsOnly)
Inventeurs
  • 이선규 LEE, Sun Kyu
  • 김정균 KIM, Jung Kyun
  • 와타루나가야마 WATARU, Nakayama
Mandataires
  • 특허법인 우인 WOOIN PATENT & LAW FIRM
Données relatives à la priorité
10-2009-010855911.11.2009KR
Langue de publication coréen (KO)
Langue de dépôt coréen (KO)
États désignés
Titre
(EN) APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING PROPERTY OF CONTACT HEAT CONDUCTION MATERIAL
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ POUR MESURER LA PROPRIÉTÉ D'UN MATÉRIAU DE CONDUCTION DE CHALEUR PAR CONTACT
(KO) 접촉열전도재 특성 측정 장치 및 방법
Abrégé
(EN)
According to at least one embodiment of the present invention, an apparatus and a method for measuring the property of a contact heat conduction material are provided. The method comprises the steps of: calculating a thermal current value flowing into the contact heat conduction material which is positioned between one end of a second heat flux bar and a heat sink coupled with one end of a first heat flux bar; calculating temperature on each of the upper and lower surfaces of the contact heat conduction material by considering the calculated thermal current value; and calculating thermal resistance of the contact heat conduction material by considering the calculated thermal current value and the calculated temperature. Thus, the invention is capable of exactly measuring the thermal resistance of the contact heat conduction material contacted with the heat sink.
(FR)
Dans au moins un mode de réalisation, la présente invention divulgue un dispositif et un procédé pour mesurer la propriété d'un matériau de conduction de chaleur par contact. Le procédé comprend les étapes suivantes: calculer une valeur de courant thermique qui s'écoule dans le matériau de conduction de chaleur par contact qui est positionné entre une extrémité d'une deuxième barre de flux de chaleur et un puits thermique qui est couplé à une extrémité d'une première barre de flux de chaleur; calculer la température sur chacune des surfaces supérieure et inférieure du matériau de conduction de chaleur par contact en considérant la valeur de courant thermique calculée; et calculer la résistance thermique du matériau de conduction de chaleur par contact en considérant la valeur de courant thermique calculée et la température calculée. L'invention est donc capable de mesurer exactement la résistance thermique du matériau de conduction de chaleur par contact qui est mis en contact avec le puits thermique.
(KO)
본 발명의 적어도 일 실시예에 따른 접촉열전도재 특성 측정장치 및 방법은, 제1 열속 바의 일단에 결합된 방열판과 제2 열속 바의 일단 사이에 마련된 접촉열전도재를 흐르는 열류값을 계산하고, 계산된 열류값을 고려하여 접촉열전도재의 상하면 각각의 온도를 계산하고, 그 계산된 열류값과 그 계산된 온도를 고려하여 접촉열전도재의 열저항을 계산함으로써, 방열판과 접촉하고 있는 접촉열전도재의 열저항을 정확히 측정할 수 있다.
Également publié en tant que
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international