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1. (WO2010090122) DISPOSITIF D'ANALYSE DES ONDES D'IMPULSIONS ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DES ONDES D'IMPULSION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/090122    N° de la demande internationale :    PCT/JP2010/051118
Date de publication : 12.08.2010 Date de dépôt international : 28.01.2010
CIB :
A61B 5/0245 (2006.01)
Déposants : OMRON HEALTHCARE CO., LTD. [JP/JP]; 24, Yamanouchi Yamanoshita-cho, Ukyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6150084 (JP) (Tous Sauf US).
SATO, Hironori [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KOBAYASHI, Tatsuya [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
YOSHIDA, Hideaki [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
FUJII, Kenji [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
OGURA, Toshihiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SATO, Hironori; (JP).
KOBAYASHI, Tatsuya; (JP).
YOSHIDA, Hideaki; (JP).
FUJII, Kenji; (JP).
OGURA, Toshihiko; (JP)
Mandataire : FUKAMI, Hisao; (JP)
Données relatives à la priorité :
2009-022972 03.02.2009 JP
Titre (EN) PULSE WAVE ANALYZING DEVICE AND PULSE WAVE ANALYZING METHOD
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DES ONDES D'IMPULSIONS ET PROCÉDÉ D'ANALYSE DES ONDES D'IMPULSION
(JA) 脈波解析装置および脈波解析方法
Abrégé : front page image
(EN)A pulse wave analyzing device acquires a local maximum value of the fourth-order differentiated wave of the pulse wave of one beat (S301) and determines the absolute maximum point (point P2) of a reflected wave which is one of the feature points of the reflected wave, among the local maximum values of the fourth-order differentiation present in the original waveform section, as the start point of the reflected wave section which is a first feature point (S303).  Using 10% of the amplitude at the first feature point as a threshold, the point of time when the amplitude after the said point reaches the threshold is determined as the end point of the reflected wave section which is a second feature point (S305).  The duration time of the reflected wave which is the time between the first feature point and the second feature point is calculated as an index useful for diagnosis of heart disease.
(FR)Un dispositif d'analyse des ondes d'impulsions acquiert une valeur locale maximale de l'onde différenciée de quatrième ordre de l'onde d'impulsions d'un battement (S301) et détermine le point maximal absolu (point P2) d'une onde réfléchie qui est l'un des points caractéristiques de l'onde réfléchie, parmi les valeurs maximales locales de la différentiation de quatrième ordre présentes dans la section correspondant à la forme d'onde originale, en tant que point de départ de la section correspondant à l'onde réfléchie qui est un premier point caractéristique (S303). En utilisant 10 % de l'amplitude au niveau du premier point caractéristique en tant que seuil, le moment précis où l'amplitude après ledit moment précis atteint le seuil est déterminé comme correspondant au point terminal de la section correspondant à l'onde réfléchie qui est un second point caractéristique (S305). La durée de l'onde réfléchie qui correspond à la durée s'écoulant entre le premier point caractéristique et le second point caractéristique est calculée et constitue un indicateur se révélant utile dans le cadre du diagnostic de la maladie cardiaque.
(JA) 脈波解析装置では、1拍の脈波の4次微分波の極大点が取得され(S301)、元波形の区間に存在する4次微分の極大点のうち、最大点が特徴点の1つである反射波の最大点(P2点)が、第1の特徴点である反射波区間の開始点に決定される(S303)。第1の特徴点の振幅の10%をしきい値として、当該点以降で振幅が当該しきい値に達した時点が、第2の特徴点である反射波区間の終了点に決定される(S305)。第1の特徴点と第2の特徴点との間の時間である反射波の継続時間が、心疾患の診断に有用な指標として算出される。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)