WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2010088302) CIRCUIT POUR LA DÉTECTION DE COUPLAGES INTER-ÉTAGES DANS DES DISPOSITIFS À CIRCUIT INTÉGRÉ EMPILÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/088302    N° de la demande internationale :    PCT/US2010/022279
Date de publication : 05.08.2010 Date de dépôt international : 27.01.2010
CIB :
H01L 25/065 (2006.01), G01R 31/04 (2006.01), G01R 31/3185 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; Attn: International Ip Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121 (US) (Tous Sauf US).
TOMS, Thomas, R. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : TOMS, Thomas, R.; (US)
Mandataire : TALPALATSKY, Sam; 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121 (US)
Données relatives à la priorité :
12/360,244 27.01.2009 US
Titre (EN) A CIRCUIT FOR DETECTING TIER-TO-TIER COUPLINGS IN STACKED INTEGRATED CIRCUIT DEVICES
(FR) CIRCUIT POUR LA DÉTECTION DE COUPLAGES INTER-ÉTAGES DANS DES DISPOSITIFS À CIRCUIT INTÉGRÉ EMPILÉ
Abrégé : front page image
(EN)A first semiconductor tier has a first tier-to-tier connector for detecting a tier-to-tier coupling in a stacked integrated circuit (IC) device. A second semiconductor tier has a second tier-to-tier connector configured to electrically couple to the first tier-to-tier connector. A tier-to-tier detection circuit electrically couples to the second tier-to-tier connector. The tier-to-tier detection circuit generates an output signal indicative of an electrical coupling between the first semiconductor tier and the second semiconductor tier,
(FR)La présente invention concerne un premier étage de semi-conducteurs comportant un premier connecteur inter-étages pour la détection d'un couplage inter-étages dans un dispositif à circuit intégré empilé. Un second étage de semi-conducteurs comporte un second connecteur inter-étages configuré pour le couplage électrique du premier connecteur inter-étages. Un circuit de détection inter-étages est en couplage électrique avec le second connecteur inter-étages. Le circuit de détection inter-étages génère un signal de sortie représentatif d'un couplage électrique entre le premier étage à semi-conducteurs et le second étage de semi-conducteurs.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)