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1. (WO2010087088) DÉTECTEUR D'ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ÉCHANTILLON
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/087088    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/071117
Date de publication : 05.08.2010 Date de dépôt international : 18.12.2009
CIB :
G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/78 (2006.01), G01N 33/543 (2006.01)
Déposants : NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY [JP/JP]; 3-1, Kasumigaseki 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008921 (JP) (Tous Sauf US).
FUJIMAKI Makoto [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
NOMURA Kenichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : FUJIMAKI Makoto; (JP).
NOMURA Kenichi; (JP)
Données relatives à la priorité :
2009-019296 30.01.2009 JP
Titre (EN) SAMPLE DETECTION SENSOR AND SAMPLE DETECTION METHOD
(FR) DÉTECTEUR D'ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'ÉCHANTILLON
(JA) 検体検出センサー及び検体検出方法
Abrégé : front page image
(EN)A sample detection sensor uses a detecting plate having a single-crystal Si thin film layer, a transparent thin film layer, and a sample capturing layer for capturing a sample on a transparent substrate and is provided with a light entrance mechanism for causing light to enter from the transparent substrate side of the detecting plate and a light detection mechanism for detecting reflected light of the light entering from the detecting plate.  The sensor is set so that the absorbance of the sample capturing layer itself or the vicinity thereof varies when the sample is captured by the sample capturing layer.  The wavelength of the entering light is set within a wavelength region where the absorbance varies.  Therefore, the sample is detected by observing a significant variation of the intensity of the reflected light occurring when the sample is captured by the sample capturing layer.
(FR)La présente invention porte sur un détecteur d'échantillon qui met en œuvre une plaque de détection comportant une couche en film mince de Si monocristallin, une couche en film mince transparente et une couche de capture d'échantillon pour capturer un échantillon sur un substrat transparent, et le détecteur d'échantillon comporte un mécanisme d'entrée de lumière pour faire entrer de la lumière à partir du côté du substrat transparent de la plaque de détection et un mécanisme de détection de lumière pour détecter une lumière réfléchie de la lumière entrant à partir de la plaque de détection. Le détecteur est agencé de telle sorte que l'absorbance de la couche de capture d'échantillon elle-même ou le voisinage de celle-ci varie lorsque l'échantillon est capturé par la couche de capture d'échantillon. La longueur d'onde de la lumière entrante est réglée dans une plage de longueur d'onde où l'absorbance varie. Par conséquent, l'échantillon est détecté par observation d'une variation significative de l'intensité de la lumière réfléchie se produisant lorsque l'échantillon est capturé par la couche de capture d'échantillon.
(JA) 本発明は、透明基板上に、単結晶Si薄膜層、透明薄膜層、及び検体を捕らえる検体捕捉層を持つ検出板を用い、この検出板の前記透明基板側から光を入射する光入射機構と、該検出板からの前記入射された光の反射光を検出する光検出機構と、を備え、前記検体が前記検体捕捉層に捕捉された際、該検体捕捉層自身またはその近傍において吸光度の変化が生じるように設定しておく。さらに前記入射する光の波長は、前記吸光度の変化が生じる波長領域内に設定しておく。これによって、検体が検体捕捉層に捕捉された際に生じる大きな反射光強度の変化を観測することによって検体を検出する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)