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1. (WO2010087008) DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE, APPAREIL DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/087008    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/051648
Date de publication : 05.08.2010 Date de dépôt international : 30.01.2009
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
NAGATANI, Kenichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NAGATANI, Kenichi; (JP)
Mandataire : RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1631105 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ELECTRONIC DEVICE, TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD
(FR) DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE, APPAREIL DE TEST ET PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 電子デバイス、試験装置および試験方法
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a testing apparatus for testing an electronic device which outputs a data signal and a clock signal indicating timing in which the data signal is to be acquired. The electronic device is provided with an output circuit which generates the data signal and the clock signal, and a testing circuit which switches to output either the data signal or the clock signal from a first terminal of the electronic device in the case of testing the electronic device. The testing apparatus is also provided with a phase difference detecting section which detects a phase difference between the data signal and the clock signal outputted from the first terminal.
(FR)L'invention porte sur un appareil de test pour tester un dispositif électronique qui émet un signal de données et un signal d'horloge indiquant une temporisation à laquelle le signal de données doit être acquis. Le dispositif électronique comporte un circuit de sortie qui génère le signal de données et le signal d'horloge, et un circuit de test qui commute pour émettre soit le signal de données, soit le signal d'horloge, à partir d'un premier terminal du dispositif électronique dans le cas du test du dispositif électronique. L'appareil de test comporte également une section de détection de différence de phase qui détecte une différence de phase entre le signal de données et le signal d'horloge émis à partir du premier terminal.
(JA) データ信号およびデータ信号を取得すべきタイミングを示すクロック信号を出力する電子デバイスを試験する試験装置であって、電子デバイスは、データ信号およびクロック信号を発生する出力回路と、当該電子デバイスを試験する場合に、当該電子デバイスの第1端子から、データ信号およびクロック信号のいずれを出力するかを切り替えるテスト用回路と、を備え、当該試験装置は、第1端子から出力されるデータ信号およびクロック信号の位相差を検出する位相差検出部を備える試験装置を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)