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1. (WO2010084700) PROCÉDÉ DE MESURE ÉLECTRONIQUE DE LA DISTANCE ET APPAREIL DE MESURE ÉLECTRONIQUE DE LA DISTANCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/084700    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/071898
Date de publication : 29.07.2010 Date de dépôt international : 25.12.2009
CIB :
G01S 17/10 (2006.01), G01S 7/48 (2006.01)
Déposants : KABUSHIKI KAISHA TOPCON [JP/JP]; 75-1, Hasunumacho Itabashi-ku, Tokyo 1748580 (JP) (Tous Sauf US).
KANOKOGI, Mitsuru [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
OHISHI, Masahiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KANOKOGI, Mitsuru; (JP).
OHISHI, Masahiro; (JP)
Mandataire : MIYOSHI, Shoji; 6th Floor, Ohshimaya Bldg. 22-5, Hachobori 2-chome, Chuo-ku Tokyo 1040032 (JP)
Données relatives à la priorité :
2009-012099 22.01.2009 JP
Titre (EN) ELECTRONIC DISTANCE MEASURING METHOD AND ELECTRONIC DISTANCE MEASURING APPARATUS
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE ÉLECTRONIQUE DE LA DISTANCE ET APPAREIL DE MESURE ÉLECTRONIQUE DE LA DISTANCE
(JA) 光波距離測定方法及び光波距離測定装置
Abrégé : front page image
(EN)In electronic distance measurement, light emitted from a light source (6) is radiated toward a subject to be measured (2), reflected light reflected by the subject to be measured is received by a light receiving section (8), the light emitted from the light source is received as internal light through an internal light path (11) by the light receiving section, and based on the light reception results of the reflected light and the internal light received by the light receiving section, the distance to the subject to be measured is measured.  Correction information is acquired based on the internal light, the acquired correction information is stored, a correction value is acquired from the correction information based on the reflected light and the internal light, and the distance is calculated using the correction value and the light reception results of the reflected light and the internal light received by the light receiving section.
(FR)Selon l'invention pour la mesure électronique de distance, la lumière émise par une source de lumière (6) est dirigée vers un sujet à mesurer (2), la lumière réfléchie par le sujet à mesurer est reçue par une section réceptrice de lumière (8), la lumière émise par la source de lumière est reçue par la section réceptrice de lumière sous forme de lumière interne à travers un trajet de lumière interne (11) puis, en se basant sur les résultats de la réception de la lumière réfléchie et de la lumière interne reçue par la section réceptrice de lumière, la distance par rapport au sujet à mesurer est mesurée. Des informations de correction sont acquises en se basant sur la lumière interne, les informations de correction acquises sont stockées, une valeur de correction est acquise à partir des informations de correction en se basant sur la lumière réfléchie et la lumière interne, puis la distance est calculée en utilisant la valeur de correction et les résultats de la réception de la lumière réfléchie et de la lumière interne reçues par la section réceptrice de lumière.
(JA) 光源(6)からの光を測定対象物(2)に向けて照射し、該測定対象物で反射された反射光を受光部(8)で受光し、前記光源からの光を内部光路(11)を介して内部光として前記受光部により受光し、該受光部の前記反射光、前記内部光の受光結果に基づき前記測定対象物迄の距離を測定する光波距離測定に於いて、前記内部光に基づき補正情報を取得し、取得された該補正情報を記憶し、前記反射光と前記内部光とに基づき前記補正情報から補正値を取得し、該補正値と、前記受光部の前記反射光、前記内部光の受光結果とにより距離を演算する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)