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1. (WO2010084566) DISPOSITIF DE MESURE DE RENDEMENT QUANTIQUE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE RENDEMENT QUANTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/084566    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/050734
Date de publication : 29.07.2010 Date de dépôt international : 20.01.2009
CIB :
G01N 21/64 (2006.01)
Déposants : OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD. [JP/JP]; 26-3, Shodai-Tajika 3-chome, Hirakata-shi, Osaka, 5731132 (JP) (Tous Sauf US).
OHKUBO, Kazuaki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : OHKUBO, Kazuaki; (JP)
Mandataire : FUKAMI, Hisao; Fukami Patent Office, Nakanoshima Central Tower, 22nd Floor, 2-7, Nakanoshima, 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) QUANTUM EFFICIENCY MEASURING DEVICE AND QUANTUM EFFICIENCY MEASURING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE RENDEMENT QUANTIQUE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE RENDEMENT QUANTIQUE
(JA) 量子効率測定装置および量子効率測定方法
Abrégé : front page image
(EN)A sample (OBJ1) which is an object the quantum efficiency of which is to be measured and a reference body (REF1) having a known reflectance characteristic are separately attached to a sample window (2) provided to a flat mirror (5). The spectra of the sample (OBJ1) and the reference body (REF1) separately attached to the sample window (2) are obtained through measurement by a spectrometer. The quantum efficiency of the sample (OBJ1) is determined referring to the spectra. The opening surface of the observation window (3) is substantially flush with the exposed surface of the sample (OBJ1) and the reference body (REF1). Therefore, it is prevented that fluorescence emitted from the sample (OBJ1) irradiated by exciting light (L1) and exciting light (L1) reflected from the sample (OBJ1) directly pass through the observation window (3).
(FR)Selon l'invention, un échantillon (OBJ1) qui est un objet dont le rendement quantique doit être mesuré et un corps de référence (REF1) ayant une caractéristique de réflectance connue sont fixés séparément à une fenêtre d'échantillon (2) prévue dans un miroir plat (5). Les spectres de l'échantillon (OBJ1) et du corps de référence (REF1) fixés séparément à la fenêtre d'échantillon (2) sont obtenus par mesure par un spectromètre. Le rendement quantique de l'échantillon (OBJ1) est déterminé en se référant aux spectres. La surface d'ouverture de la fenêtre d'observation (3) est sensiblement au même niveau que la surface exposée de l'échantillon (OBJ1) et du corps de référence (REF1). Par conséquent, ceci empêche que la fluorescence émise par l'échantillon (OBJ1) irradié par une lumière d'excitation (L1) et une lumière d'excitation (L1) réfléchit par l'échantillon (OBJ1) passent directement à travers la fenêtre d'observation (3).
(JA) 量子効率の測定対象部である試料(OBJ1)、および既知の反射率特性をもつ標準体(REF1)がそれぞれ平面ミラー(5)に設けられた試料窓(2)に装着される。試料(OBJ1)および標準体(REF1)をそれぞれ装着した場合に分光器で測定されるそれぞれのスペクトルに基づいて、試料(OBJ1)の量子効率が測定される。観測窓(3)の開口面を試料(OBJ1)または標準体(REF1)の露出面と実質的に一致させることで、励起光(L1)を受けて試料(OBJ1)で発生した蛍光、および試料(OBJ1)で反射された励起光(L1)が直接的に観測窓(3)に入射することを抑制する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)