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1. (WO2010083948) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE LA DÉGRADATION ET/OU DE L'EFFICACITÉ DE MODULES LASER, ET UNITÉ LASER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/083948    N° de la demande internationale :    PCT/EP2010/000103
Date de publication : 29.07.2010 Date de dépôt international : 12.01.2010
CIB :
H01S 5/40 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01), H01S 3/0941 (2006.01)
Déposants : TRUMPF LASER GMBH + CO. KG [DE/DE]; Aichhalder Strasse 39 78713 Schramberg (DE) (Tous Sauf US).
NOTHEIS, Thomas, Konrad [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
FLAIG, Rainer [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
LIERMANN, MArtin [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
KILLI, Alexander [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : NOTHEIS, Thomas, Konrad; (DE).
FLAIG, Rainer; (DE).
LIERMANN, MArtin; (DE).
KILLI, Alexander; (DE)
Mandataire : SCHIZ, Jochen; Kohler Schmid Möbus Ruppmannstrasse 27 70565 Stuttgart (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2009 005 999.7 23.01.2009 DE
Titre (DE) VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER DEGRADATION UND/ODER EFFIZIENZ VON LASERMODULEN UND LASEREINHEIT
(EN) METHOD FOR DETERMINING THE DEGRADATION AND/OR EFFICIENCY OF LASER MODULES AND LASER UNIT
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE LA DÉGRADATION ET/OU DE L'EFFICACITÉ DE MODULES LASER, ET UNITÉ LASER
Abrégé : front page image
(DE)Ein Verfahren zur Bestimmung der Degradation und/oder Effizienz einer Lasereinheit (2,3) mit mehreren in Reihe geschalteten Lasermodulen (4-7), wobei jedem Lasermodul (4-7) eine Bypassanordnung (10-13) parallel geschaltet ist, durch die das zugeordnete Lasermodul (4-7) überbrückbar ist, umfasst die Verfahrensschritte: a. Bestimmen einer ersten Laserleistung für eine erste Anzahl von Lasermodulen (4-7); b. Aktivieren der Bypassanordnung (10-13) zumindest eines Lasermoduls (4-7) der ersten Anzahl von Lasermodulen (4-7), so dass zumindest ein Lasermodul (4-7) überbrückt ist; c. Bestimmen einer zweiten Laserleistung für eine zweite Anzahl von Lasermodulen (4-7), wobei die zweite Anzahl der ersten Anzahl ohne die überbrückten Lasermodule (4-7) entspricht; d. Bestimmen der Differenz aus erster und zweiter Laserleistung.
(EN)A method for determining the degradation and/or efficiency of a laser unit (2, 3) having a plurality of laser modules (4-7) connected in series, wherein a bypass system (10-13) by which the associated laser module (4-7) can be bypassed is connected in parallel to each laser module (4-7), comprises the following steps: a. determining a first laser power for a first number of laser modules (4-7); b. activating the bypass system (10-13) of at least one laser module (4-7) of the first number of laser modules (4-7) such that at least one laser module (4-7) is bypassed; c. determining a second laser power for a second number of laser modules (4-7), wherein the second number equals the first number without the bypassed laser modules (4-7); d. determining the difference between the first and second laser power.
(FR)L'invention concerne un procédé de détermination de la dégradation et/ou de l'efficacité d'une unité laser (2,3) comportant une pluralité de modules laser (4-7) montés en série. Un dispositif de dérivation (10-13) qui permet de court-circuiter le module laser associé (4-7) est associé à chaque module laser (4-7). Le procédé selon l'invention comprend les étapes suivantes : a. détermination d'une première puissance laser pour un premier nombre de modules laser (4-7) ; b. activation du dispositif de dérivation (10-13) d'au moins un module laser (4-7) du premier nombre de modules laser (4-7), de sorte qu'au moins un module laser (4-7) soit court-circuité ; c. détermination d'une seconde puissance laser pour un second nombre de modules laser (4-7), le second nombre correspondant au premier nombre moins le module laser (4-7) court-circuité ; d. détermination de la différence entre la première et la seconde puissance laser.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)