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1. (WO2010082335) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE LA LARGEUR D'UN FILM REVÊTU ET DISPOSITIF DE DÉTECTION UTILISÉ DANS LEDIT PROCÉDÉ DE DÉTECTION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/082335    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/050483
Date de publication : 22.07.2010 Date de dépôt international : 15.01.2009
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    18.09.2009    
CIB :
B05D 3/00 (2006.01), G01B 21/06 (2006.01), G01B 21/08 (2006.01), H01M 4/04 (2006.01)
Déposants : TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1, Toyota-cho, Toyota-shi, Aichi 4718571 (JP) (Tous Sauf US).
MINAKUCHI, Akio [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MINAKUCHI, Akio; (JP)
Mandataire : ABE, Makoto; Teshima Patent Law Firm Nagoya Office, CRD Marunouchi 5th Floor, 3-17-13 Marunouchi, Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600002 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD OF DETECTING THE WIDTH OF A COATED FILM AND DETECTION DEVICE USED IN SAID DETECTION METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE LA LARGEUR D'UN FILM REVÊTU ET DISPOSITIF DE DÉTECTION UTILISÉ DANS LEDIT PROCÉDÉ DE DÉTECTION
(JA) 塗工膜の幅の検査方法および該検査方法に用いる検査装置
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed is a method of detecting the width of a coated film, in which method a width W1 is detected in a transverse direction which intersects a longitudinal direction of a coated film 20 which is formed in the longitudinal direction on a substrate 10 in the form of a sheet. The method includes the following steps: a step in which a thickness profile in the transverse direction of the coated film 20 is measured; a step in which approximating curves L1, L2 of the function of a distance X and thickness Y are produced at regions 24a, 24b close to the two ends in the transverse direction of the coated film 20 on the basis of the measured thickness profile; and a step in which a distance Xe1 corresponding to a thickness threshold Yt obtained from the approximating curve L1 at the region 24a close to one of the ends, and a distance Xe2 corresponding to a thickness threshold Yt obtained from the approximating curve L2 at the region 24b close to the other end are taken as the two ends in the transverse direction, based on the approximating curves L1, L2 obtained and the thickness threshold Yt from the reference point Y0 which has been measured beforehand, and the absolute value of the difference Xe1 - Xe2 between Xe1 and Xe2 is calculated as the width W1 in the transverse direction of the coated film 20 at a specified measurement point.
(FR)La présente invention se rapporte à un procédé de détection de la largeur d'un film revêtu. Dans ledit procédé, une largeur W1 est détectée dans une direction transversale qui croise une direction longitudinale d'un film revêtu 20 qui est formé dans la direction longitudinale sur un substrat 10 sous la forme d'une feuille. Le procédé comprend les étapes suivantes : une étape dans laquelle un profil d'épaisseur dans la direction transversale du film revêtu 20 est mesuré ; une étape dans laquelle des courbes d'approximation L1, L2 de la fonction d'une distance X et d'une épaisseur Y sont produites dans des régions 24a, 24b proches des deux extrémités dans la direction transversale du film revêtu 20 sur la base du profil d'épaisseur mesuré ; et une étape dans laquelle une distance Xe1 correspondant à un seuil d'épaisseur Yt obtenu à partir de la courbe d'approximation L1 dans la région 24a proche de l'une des extrémités, et une distance Xe2 correspondant à un seuil d'épaisseur Yt obtenu à partir de la courbe d'approximation L2 dans la région 24b proche de l'autre extrémité sont considérées comme les deux extrémités dans la direction transversale, sur la base des courbes d'approximation L1, L2 obtenues et du seuil d'épaisseur Yt à partir du point de référence Y0 qui a été préalablement mesuré, et la valeur absolue de la différence Xe1 - Xe2 entre Xe1 et Xe2 est calculée comme largeur W1 dans la direction transversale du film revêtu 20 à un point de mesure spécifié.
(JA) 本発明の塗工膜の幅の検査方法は、シート状基材10上に長手方向に亘って形成された塗工膜20の該長手方向と交差する横方向の幅W1を検出する方法であって、以下の工程:塗工膜20の横方向への厚みプロファイルを計測する工程;計測した厚みプロファイルに基づき、塗工膜20の横方向の両端部近傍領域24a、24bにおいて距離Xと厚さYとの関数の近似曲線L1,L2を作成する工程;および得られた近似曲線L1,L2と予め設定しておいた基準点Yからの厚み閾値Yとに基づいて、一方の端部近傍領域24aの近似曲線L1から求められた厚み閾値Yに対応する距離Xe1と、他方の端部近傍領域24bの近似曲線L2から求められた厚み閾値Yに対応する距離Xe2とを横方向の両方の端部とみなし、該Xe1とXe2との差:Xe1-Xe2の絶対値を、所定の計測点における塗工膜20の横方向の幅W1として算出する工程;を包含する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)