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1. (WO2010082330) PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE DÉTECTION DE CARACTÉRISTIQUES D'UN DISPOSITIF EN ESSAI (DUT) ET SUPPORT DE STOCKAGE CONTENANT LE PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/082330    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/050446
Date de publication : 22.07.2010 Date de dépôt international : 15.01.2009
CIB :
G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
YUKI, Junichi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : YUKI, Junichi; (JP)
Mandataire : INABA, Yoshiyuki; TMI ASSOCIATES 23rd Floor, Roppongi Hills Mori Tower, 6-10-1, Roppongi, Minato-ku, Tokyo 1066123 (JP)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) METHOD AND PROGRAM FOR DETECTING CHARACTERISTICS OF DEVICE UNDER TEST (DUT) AND STORAGE MEDIUM CONTAINING THE PROGRAM
(FR) PROCÉDÉ ET PROGRAMME DE DÉTECTION DE CARACTÉRISTIQUES D'UN DISPOSITIF EN ESSAI (DUT) ET SUPPORT DE STOCKAGE CONTENANT LE PROGRAMME
(JA) 被試験デバイスの特性を求める方法、プログラム及びそれを記憶した記憶媒体
Abrégé : front page image
(EN)Provided is a method for detecting characteristics of a DUT by using a test result indicating at least whether a DUT is good in a matrix where plots defined by combinations of first and second test parameters are two-dimensionally arranged for testing the DUT. The method includes: [a] a step for identifying at least one plot pair different from the adjacent plots and indicating a test result; [b] a step for identifying a test result of the plot pair formed by plots adjacent to each other and adjacent to the both plots of the plot pair identified by step [a]; [c]a step for selecting a plot pair which is formed by plots adjacent to each other in a region containing the plot pairs identified by steps [a] and [b] and identifies a different test result; and [d] a step for identifying a plot pair which is adjacent to both plots of the plot pair selected in step [c] and formed by plots adjacent to each other.
(FR)L'invention concerne un procédé destiné à détecter des caractéristiques d'un dispositif en essai (device under test, DUT) en utilisant un résultat d'essai indiquant au moins si un DUT est bon dans une matrice où des positions définies par des combinaisons de premiers et de deuxièmes paramètres d'essai sont disposées de façon bidimensionnelle en vue de tester le DUT. Le procédé comporte : [a] une étape consistant à identifier au moins une paire de positions différentes des positions adjacentes et indiquant un résultat d'essai ; [b] une étape consistant à identifier un résultat d'essai de la paire de positions formée par des positions adjacentes l'une à l'autre et adjacentes aux deux positions de la paire de positions identifiée par l'étape [a] ; [c] une étape consistant à sélectionner une paire de positions qui est formée par des positions adjacentes l'une à l'autre dans une région contenant les paires de positions identifiées par les étapes [a] et [b] et qui identifie un résultat d'essai différent ; et [d] une étape consistant à identifier une paire de positions adjacente aux deux positions de la paire de positions sélectionnée à l'étape [c] et formée par des positions adjacentes l'une à l'autre.
(JA) DUTを試験するための第1及び第2の試験パラメータの組み合わせで規定されるプロットが2次元に配列されたマトリクスにおいて、DUTの良否を少なくとも示す試験結果を用いて、DUTの特性を求める方法であって、(a)マトリクスにおいて、隣同士のプロットからなり異なる試験結果を示すプロット対を少なくとも1つ特定するステップと、(b)ステップ(a)で特定されたプロット対の両方のプロットに隣接し、隣同士のプロットからなるプロット対の試験結果を特定するステップと、(c)ステップ(a)及び(b)において特定されたプロット対を含む領域において、隣同士のプロットからなり異なる試験結果を特定するプロット対を選択するステップと、(d)ステップ(c)において選択されたプロット対の両方のプロットに隣接し、隣同士のプロットからなるプロット対の試験結果を特定するステップとを含む。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)