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1. (WO2010074645) SYSTEME D'ANALYSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/074645    N° de la demande internationale :    PCT/SE2009/051490
Date de publication : 01.07.2010 Date de dépôt international : 22.12.2009
CIB :
G01M 13/04 (2006.01), G01H 1/00 (2006.01), G01M 13/02 (2006.01)
Déposants : S.P.M. INSTRUMENT AB [SE/SE]; P.O. Box 504 S-645 25 Strängnäs (SE) (Tous Sauf US).
HEDIN, Lars-Olov Elis [SE/SE]; (SE) (US Seulement)
Inventeurs : HEDIN, Lars-Olov Elis; (SE)
Mandataire : ALBIHNS.ZACCO AB; Valhallavägen 117 P.O. Box 5581 S-114 85 Stockholm (SE)
Données relatives à la priorité :
0850178-5 22.12.2008 SE
0950311-1 05.05.2009 SE
61/175,508 05.05.2009 US
Titre (EN) AN ANALYSIS SYSTEM
(FR) SYSTEME D'ANALYSE
Abrégé : front page image
(EN)A method for analysing the condition of a machine having a rotating shaft, comprising: generating an analogue electric measurement signal (SEA) dependent on mechanical vibrations emanating from rotation of said shaft; sampling said analogue measurement signal at a sampling frequency (fS) so as to generate a digital measurement data signal (SMD) in response to said received analogue measurement data; performing a decimation of the digital measurement data signal (SMD) SO as to achieve a digital signal (SRED) having a reduced sampling frequency (fSR1, fSR2); wherein said decimation includes the step of controlling the reduced sampling frequency (fSR1, fSR2) such that the number of sample values per revolution of the shaft (8) is kept at a substantially constant value; and performing a condition analysis function (Fl, F2, Fn) for analysing the condition of the machine dependent on said digital signal (SRED) having a reduced sampling frequency (fSR1, fSR2).
(FR)L'invention concerne un procédé permettant d'analyser l'état d'une machine pourvue d'un arbre de rotation. Ce procédé consiste : à générer un signal de mesure électrique analogique (SEA) fonction des vibrations mécaniques émanant de la rotation de l'arbre ; à échantillonner ce signal de mesure analogique à une fréquence d'échantillonnage (fS), de sorte à générer un signal de données de mesure numérique (SMD) en réponse aux données de mesure analogique reçues ; et à effectuer une décimation du signal de données de mesure numérique (SMD), de sorte à obtenir un signal numérique (SRED) présentant une fréquence d'échantillonnage réduite (fSR1, fSR2) ; la décimation consistant à réguler la fréquence d'échantillonnage réduite (fSR1, fSR2) de sorte que le nombre de valeurs d'échantillon par révolution d'arbre (8) soit maintenu sensiblement constant, et à réaliser une fonction d'analyse d'état (Fl, F2, Fn) permettant d'analyser l'état de la machine en fonction du signal numérique (SRED) à fréquence d'échantillonnage réduite (fSR1, fSR2).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)