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1. (WO2010073541) PROCÉDÉ D'IMAGERIE ET DISPOSITIF D'IMAGERIE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/073541    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/006890
Date de publication : 01.07.2010 Date de dépôt international : 15.12.2009
CIB :
H04N 5/335 (2011.01)
Déposants : Hitachi Kokusai Electric Inc. [JP/JP]; 14-1, Sotokanda 4-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1018980 (JP) (Tous Sauf US).
NAKAMURA, Kazuhiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
MUTO, Yutaka [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : NAKAMURA, Kazuhiko; (JP).
MUTO, Yutaka; (JP)
Mandataire : Polaire I.P.C.; 7-1, Hatchobori 2-chome Chuo-ku, Tokyo 1040032 (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-328384 24.12.2008 JP
Titre (EN) IMAGING METHOD AND IMAGING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'IMAGERIE ET DISPOSITIF D'IMAGERIE
(JA) 撮像方法および撮像装置
Abrégé : front page image
(EN)The EM-CCD false signal is minimized so as to improve the effective sensitivity. Provided is an imaging device using an EM-CCD, an FFP, a scan line memory, and a screen memory. When increasing the number of electrons, the average AGC of the effective pixel signal is increased, the AGC of the vertical frequency is decreased, the average amplitude of the dark current component to be subtracted is increased, and the vertical cycle amplitude is increased in proportion to the ratio of the second value from the current minimum value of the V-OB against the estimated value of the dark current obtained by using the imaging element measurement temperature to correct the second value from the minimum value of the V-OB stored during a non-electron increase mode. If the smear is below or equal to a predetermined value, the AGC of the horizontal cycle of the effective pixel signal is decreased and the amplitude of the horizontal cycle of the dark current component to be subtracted is increased in proportion to the ratio of the current minimum value of the H-OB against the estimated value of the dark current obtained by using the imaging element measurement temperature to correct the minimum value of the H-OB stored during the non-electron increase mode.
(FR)Selon l'invention, le signal erroné EM-CCD est minimisé de manière à améliorer la sensibilité effective. L'invention concerne un dispositif d'imagerie utilisant un EM-CCD, un FFP, une mémoire de lignes de balayage et une mémoire d'écran. Lors de l'augmentation du nombre d'électrons, l'AGC moyen du signal de pixel effectif est augmenté, l'AGC de la fréquence verticale est diminué, l'amplitude moyenne du composant de courant d'obscurité à soustraire est augmentée, et l'amplitude de cycle vertical est augmentée en proportion du rapport de la seconde valeur provenant de la valeur minimale de courant du V-OB par rapport à la valeur estimée du courant d'obscurité obtenu par l'utilisation de la température de mesure d'élément d'imagerie pour corriger la seconde valeur provenant de la valeur minimale du V-OB stocké pendant un mode d'augmentation sans électron. Si la trainée est inférieure ou égale à une valeur prédéterminée, l'AGC du cycle horizontal du signal de pixel effectif est diminué et l'amplitude du cycle horizontal du composant de courant d'obscurité à soustraire est augmentée en proportion du rapport de la valeur minimale de courant de l'H-OB par rapport à la valeur estimée du courant d'obscurité obtenu par l'utilisation de la température de mesure d'élément d'imagerie pour corriger la valeur minimale de l'H-OB stocké pendant le mode d'augmentation sans électron.
(JA) EM-CCDの偽信号を最小限にして、実効感度を改善する。 EM-CCDとFFPと走査線メモリと画面メモリを用いた撮像装置において、電子増倍時に、V-OBの現在の最小値から2番目の値と非電子増倍時に記憶したV-OBの最小値から2番目の値を撮像素子測定温度で補正した暗電流の想定値との比に比例して、有効画素信号の平均のAGCを高く垂直周期のAGCを低くし、減算する暗電流成分の平均の増幅を高く垂直周期の増幅を高くし、スミアが所定値以下なら、H-OBの現在の最小値と非電子増倍時に記憶したH-OBの最小値を撮像素子測定温度で補正した暗電流の想定値との比に比例して、有効画素信号の水平周期のAGCを低くし、減算する暗電流成分の水平周期の増幅を高くする。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)