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1. (WO2010020995) JAUGE D'ÉTALONNAGE/VÉRIFICATION COMPOSITE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/020995    N° de la demande internationale :    PCT/IN2008/000630
Date de publication : 25.02.2010 Date de dépôt international : 29.09.2008
CIB :
G01B 3/30 (2006.01), G01B 3/34 (2006.01), G01B 3/46 (2006.01)
Déposants : RASTOGI, Shalabh Kumar [IN/IN]; (IN)
Inventeurs : RASTOGI, Shalabh Kumar; (IN)
Mandataire : KHURANA, Tarun; Khurana & Khurana Advocates and IP Attorneys S/20-22, IFAIA Center Greater Noida Shopping Plaza UPSIDC Site IV Kasna Road Greater Noida, UP (IN)
Données relatives à la priorité :
1946/DEL/2008 18.08.2008 IN
Titre (EN) COMPOSITE CALIBRATION/VERIFICATION GAUGE AND METHOD OF ITS MANUFACTURE
(FR) JAUGE D'ÉTALONNAGE/VÉRIFICATION COMPOSITE ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
Abrégé : front page image
(EN)The present invention relates to a combination calibration / verification gauge for calibrating measuring instruments with a measurement precision. More particularly, the present invention relates to a multi-function, multi-dimension length standard and works as a working standard to compare various measuring instruments on the shop floor.
(FR)La présente invention porte sur une jauge de combinaison d'étalonnage/vérification pour étalonner des instruments de mesure avec une précision de mesure. Plus particulièrement, la présente invention porte sur une norme de longueur multifonction, multi-dimension et fonctionne en tant que norme de travail pour comparer divers instruments de mesure dans l'atelier.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)