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1. (WO2010019612) STRUCTURE DE PARTICULES COMPACTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/019612    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/053465
Date de publication : 18.02.2010 Date de dépôt international : 11.08.2009
CIB :
B32B 1/06 (2006.01), A42B 3/00 (2006.01), F41H 5/04 (2006.01)
Déposants : GREENHILL ANTIBALLISTICS CORPORATION [US/US]; 160 East 65th Street New York, NY 10065 (US) (Tous Sauf US).
GREENHILL, Zachary, R. [US/US]; (US) (US Seulement).
AVNIEL, Yuval [US/US]; (US) (US Seulement).
BELBRUNO, Joseph, J. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : GREENHILL, Zachary, R.; (US).
AVNIEL, Yuval; (US).
BELBRUNO, Joseph, J.; (US)
Mandataire : GRASBON, Jan, Felix; Fish & Richardson P.C. P.o. Box 1022 Minneapolis, MN 55440-1022 (US)
Données relatives à la priorité :
PCT/US2008/072808 11.08.2008 US
61/153,539 18.02.2009 US
Titre (EN) DENSELY PACKED PARTICLE STRUCTURE
(FR) STRUCTURE DE PARTICULES COMPACTE
Abrégé : front page image
(EN)Disclosed herein are engineered microscale particle based material suitable for applications that can benefit from a microscale particle based material capable of interacting with or responding to, in a controlled or predetermined manner, changes in its surrounding environment. The microscale particle based material generally includes a densely packed particle structure including densely packed microscale particles, wherein particles of the densely packed particle structure are positioned with respect to each other such that at least some of the particles get into contact with each other during interaction with a compression wave, thereby attenuating the compression wave propagating in the densely packed particle structure.
(FR)L'invention porte sur un matériau à base de particules à l'échelle micrométrique sophistiqué approprié pour des applications qui peuvent tirer avantage d'un matériau à base de particules à l'échelle micrométrique apte à interagir avec des changements dans un environnement, ou à répondre à ceux-ci, d'une manière contrôlée ou prédéfinie. Le matériau à base de particules à l'échelle micrométrique comprend généralement une structure de particules compacte comprenant des particules à l'échelle micrométrique denses, les particules de la structure de particules compacte étant positionnées les unes par rapport aux autres de façon à ce qu'au moins certaines des particules viennent en contact les unes avec les autres au cours de l'interaction avec une onde de compression, ce qui atténue de cette manière la propagation de l'onde de compression dans la structure de particules compacte.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)