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1. (WO2010018691) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE TEST
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/018691    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/003885
Date de publication : 18.02.2010 Date de dépôt international : 12.08.2009
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
AKITA, Tokunori [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : AKITA, Tokunori; (JP)
Mandataire : RYUKA, Akihiro; (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-209079 14.08.2008 JP
Titre (EN) TESTING DEVICE AND TESTING METHOD
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE TEST
(JA) 試験装置および試験方法
Abrégé : front page image
(EN)Multiple testing modules with differing operating frequencies are synchronized with a synchronizing signal that is generated by a single synchronizing module. Provided is a testing device which is equipped with a synchronizing module that is operated by a reference clock having a reference frequency and generates a synchronizing signal of a prescribed period, and testing modules that are operated by high frequency clocks of frequencies that are n times the reference frequency and which test devices under test based on testing period signals that are synchronized to the synchronizing signal.  The testing modules have a period emulator that emulates the synchronizing signal, a phase shifter that shifts the phase of the high frequency clock by a shift number which is the multiplier of the phase data of the emulated synchronizing signal and n divided by the reference clock period, and a test period-generating unit that generates test period phase data that indicates the test period pulse signal that changes with the edge timing of the shifted high frequency clock and the phase difference between the test period pulse signal and the test period.
(FR)La présente invention vise à synchroniser des modules multiples de test fonctionnant à des fréquences différentes à l’aide d’un signal de synchronisation généré par un module unique de synchronisation. L'invention concerne un dispositif de test équipé d’un module de synchronisation actionné par une horloge de référence caractérisée par une fréquence de référence et générant un signal de synchronisation d’une période prescrite, ainsi que des modules de test actionnés par des horloges à haute fréquence dont les fréquences valent n fois la fréquence de référence et qui testent des dispositifs soumis aux tests sur la base de signaux périodiques de test qui sont synchronisés avec le signal de synchronisation. Les modules de test comportent un émulateur de période qui émule le signal de synchronisation, un déphaseur qui décale la phase de l’horloge à haute fréquence d’un nombre de déphasage qui est le multiplicateur des données de phase du signal de synchronisation émulé et de n divisé par la période de l’horloge de référence, et une unité génératrice de périodes de test qui génére des données de phase de périodes de test indiquant le signal impulsionnel de période de test qui change avec le chronométrage de bord de l’horloge à haute fréquence déphasée et la différence de phase entre le signal impulsionnel de période de test et la période de test.
(JA) 動作周波数の異なる複数の試験モジュールを単一の同期モジュールが生成する同期信号で同期させる。  基準周波数を有する基準クロックで動作するとともに所定周期の同期信号を生成する同期モジュールと、基準周波数のn倍の周波数の高周波クロックで動作し、同期信号に同期した試験周期信号に基づいて被試験デバイスを試験する試験モジュールとを備え、試験モジュールは、同期信号をエミュレートする周期エミュレータと、エミュレートされた同期信号の位相データとnとの乗数を基準クロックの周期で除したシフト段数だけ高周波クロックの位相をシフトさせる位相シフタと、シフトされた高周波クロックのエッジタイミングで遷移する試験周期パルス信号および試験周期パルス信号と試験周期との位相差を示す試験周期位相データを生成する試験周期生成部とを有する試験装置を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)