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1. (WO2010018515) MESURE ET CORRECTION D'UNE DISTORSION DE LENTILLE DANS UN DISPOSITIF DE BALAYAGE À FAISCEAUX MULTIPLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/018515    N° de la demande internationale :    PCT/IB2009/053489
Date de publication : 18.02.2010 Date de dépôt international : 07.08.2009
CIB :
G01M 11/02 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01), G02B 27/00 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
HULSKEN, Bas [NL/NL]; (NL) (US Seulement).
STALLINGA, Sjoerd [NL/NL]; (NL) (US Seulement)
Inventeurs : HULSKEN, Bas; (NL).
STALLINGA, Sjoerd; (NL)
Mandataire : KROEZE, Johannes, A.; (NL)
Données relatives à la priorité :
08305469.2 13.08.2008 EP
Titre (EN) MEASURING AND CORRECTING LENS DISTORTION IN A MULTISPOT SCANNING DEVICE.
(FR) MESURE ET CORRECTION D'UNE DISTORSION DE LENTILLE DANS UN DISPOSITIF DE BALAYAGE À FAISCEAUX MULTIPLES
Abrégé : front page image
(EN)The invention provides a method of determining the distortion of an imaging system (32), the imaging system having an object plane (40) and an image plane (42). The method comprises the steps of determining (204) the positions of the image light spots (46) on a sensitive area (44) of an image sensor (34) by analyzing the image data; and fitting (205) a mapping function such that the mapping function maps the lattice points of an auxiliary lattice (48) into the positions of the image light spots (46), wherein the auxiliary lattice (48) is geometrically similar to the Bravais lattice (8) of the probe light spots (6). The invention also provides a method of imaging a sample, using an imaging system (32) having an object plane (40) and an image plane (42), the method comprising the steps of determining (304) readout points on the sensitive area (44) of an image sensor (34) by applying a mapping function to the lattice points of an auxiliary lattice (48), the auxiliary lattice being geometrically similar to a Bravais lattice (8) of probe light spots (6); and reading (305) image data from the readout points on the sensitive area (44). Also disclosed are a measuring system (10) for determining the distortion of an imaging system, and a multispot optical scanning device (10).
(FR)L'invention porte sur un procédé de détermination de la distorsion d'un système d'imagerie (32), le système d'imagerie ayant un plan objet (40) et un plan image (42). Le procédé consiste à déterminer (204) les positions des points lumineux d'image (46) sur une zone sensible (44) d'un détecteur d'image (34) par analyse des données d'image ; et à ajuster (205) une fonction de mappage de telle sorte que la fonction de mappage mappe les points de réseau d'un réseau auxiliaire (48) dans les positions des points lumineux d'image (46), le réseau auxiliaire (48) étant géométriquement analogue au réseau de Bravais (8) des points lumineux de sonde (6). L'invention porte également sur un procédé d'imagerie d'un échantillon, utilisant un système d'imagerie (32) ayant un plan objet (40) et un plan image (42), le procédé consistant à déterminer (304) des points de lecture sur la zone sensible (44) d'un détecteur d'image (34) par application d'une fonction de mappage aux points de réseau d'un réseau auxiliaire (48), le réseau auxiliaire étant géométriquement similaire au réseau de Bravais (8) de points lumineux de sonde (6) ; et à lire (305) des données d'image à partir des points de lecture sur la zone sensible (44). L'invention porte également sur un système de mesure (10) pour déterminer la distorsion d'un système d'imagerie, et sur un dispositif de balayage optique à faisceaux multiples (10).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)