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1. (WO2010017462) PROCÉDÉ POUR EFFECTUER DES MESURES DE SPECTROSCOPIE À INFRAROUGE MOYEN POUR MESURER L'ÉPAISSEUR D'UN REVÊTEMENT EN FILM, LE POIDS ET/OU UNE COMPOSITION DE FILM
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/017462    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/053123
Date de publication : 11.02.2010 Date de dépôt international : 07.08.2009
CIB :
G01N 21/35 (2006.01), G01N 21/84 (2006.01), G01B 11/06 (2006.01)
Déposants : THE BOEING COMPANY [US/US]; 100 North Riverside Plaza Chicago, IL 60606-2016 (US) (Tous Sauf US).
SHELLEY, Paul, H. [US/US]; (US) (US Seulement).
WERNER, Gregory, J. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : SHELLEY, Paul, H.; (US).
WERNER, Gregory, J.; (US)
Mandataire : PLANK, Dennis, R.; (US)
Données relatives à la priorité :
12/189,045 08.08.2008 US
Titre (EN) METHOD FOR PERFORMING MID-IR SPECTROSCOPY MEASUREMENTS TO MEASURE FILM COATING THICKNESS, WEIGHT AND/OR FILM COMPOSITION
(FR) PROCÉDÉ POUR EFFECTUER DES MESURES DE SPECTROSCOPIE À INFRAROUGE MOYEN POUR MESURER L'ÉPAISSEUR D'UN REVÊTEMENT EN FILM, LE POIDS ET/OU UNE COMPOSITION DE FILM
Abrégé : front page image
(EN)A method of determining a film coating thickness on a substrate and/or an amount of one or more compositional ingredients of said film coating, said method including detecting mid-IR spectra of a series of coating thickness or coating weight standards (and/or composition standards) on an appropriate substrate material to match a sample material in question, pre-processing the data to prepare it for multivariate calibration methods, performing the multivariate calibration, saving the calibration model in a hand-held mid-IR device in an appropriate format, and using the calibration model to predict a film coating thickness and/or an amount of one or more compositional ingredients of said film coating of a sample material in question from its mid IR spectrum.
(FR)L'invention concerne un procédé de détermination de l'épaisseur d'un revêtement en film sur un substrat et/ou la quantité d'un ou de plusieurs ingrédients de composition dudit revêtement en film, ledit procédé comprenant la détection de spectres d'infrarouge moyen d'une série d'épaisseurs de revêtement ou de standards de poids de revêtement (et/ou de standards de composition) sur un matériau de substrat approprié pour correspondre à un matériau d'échantillon en question, le prétraitement des données pour les préparer pour des procédés de calibrage à plusieurs variables, l’exécution du calibrage à plusieurs variables, la sauvegarde du modèle de calibrage dans un dispositif à infrarouge moyen portable selon un format approprié et l’utilisation du  modèle de calibrage pour prévoir l’épaisseur de revêtement en film et/ou la quantité d'un ou de plusieurs ingrédients de composition dudit revêtement en film d'un matériau d'échantillon en question à partir de son spectre d'infrarouge moyen.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)