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1. (WO2010017241) DÉTECTION DE GROUPES DE PIXELS ALTÉRÉS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/017241    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/052760
Date de publication : 11.02.2010 Date de dépôt international : 04.08.2009
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    07.05.2010    
CIB :
H04N 5/217 (2011.01), H04N 5/225 (2006.01)
Déposants : QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121 (US) (Tous Sauf US).
FORUTANPOUR, Babak [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : FORUTANPOUR, Babak; (US)
Mandataire : DEHAEMER, Michael; 5775 Morehouse Drive San Diego, CA 92121 (US)
Données relatives à la priorité :
12/185,875 05.08.2008 US
Titre (EN) BAD PIXEL CLUSTER DETECTION
(FR) DÉTECTION DE GROUPES DE PIXELS ALTÉRÉS
Abrégé : front page image
(EN)Systems and methods of bad pixel cluster detection are disclosed. In a particular embodiment, a system is disclosed that includes a bad pixel correction module coupled to receive image data and adapted to perform a bad pixel cluster detection process. The bad pixel correction module includes logic to determine whether two test pixels have values that exceed a representative value of a group of surrounding pixels by more than a threshold amount. The threshold amount is determined via a table lookup.
(FR)L'invention concerne des systèmes et des procédés de détection de groupes de pixels altérés. Dans un mode de réalisation particulier, l'invention concerne un système comprenant un module de correction de pixels altérés couplé de façon à recevoir des données d'images et prévu pour effectuer un processus de détection de groupes de pixels altérés. Le module de correction de pixels altérés comprend une logique servant à déterminer si deux pixels de test présentent des valeurs dépassant de plus d'une quantité seuil une valeur représentative d'un groupe de pixels environnants. La quantité seuil est déterminée par une recherche dans une table.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)