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1. (WO2010017112) SPECTROMÉTRIE DE RAYONS X SYNERGIQUE À DISPERSION D'ÉNERGIE ET DISPERSION DE LONGUEUR D'ONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/017112    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/052494
Date de publication : 11.02.2010 Date de dépôt international : 31.07.2009
CIB :
G01N 23/223 (2006.01), G01N 23/225 (2006.01)
Déposants : THERMO ELECTRON SCIENTIFIC INSTRUMENTS LLC [US/US]; 5225 Verona Road Madison, WI 53711 (US) (Tous Sauf US).
ROHDE, David, B. [US/US]; (US) (US Seulement).
CAMUS, Patrick, Paul [US/US]; (US) (US Seulement).
FRITZ, Gregory, S. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : ROHDE, David, B.; (US).
CAMUS, Patrick, Paul; (US).
FRITZ, Gregory, S.; (US)
Mandataire : STAGGS, Michael, C.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/085,969 04.08.2008 US
Titre (EN) SYNERGISTIC ENERGY-DISPERSIVE AND WAVELENGTH-DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETRY
(FR) SPECTROMÉTRIE DE RAYONS X SYNERGIQUE À DISPERSION D'ÉNERGIE ET DISPERSION DE LONGUEUR D'ONDE
Abrégé : front page image
(EN)An X-ray spectroscope collects an energy-dispersive spectrum from a sample under analysis, and generates a list of candidate elements that may be present in the sample. A wavelength dispersive spectral collector is then tuned to obtain X-ray intensity measurements at the energies/wavelengths of some or all of the candidate elements, thereby verifying whether or not these candidate elements are in fact present in the sample. Additionally, the alignment of the wavelength dispersive spectral collector versus the sample can be optimized by tuning the wavelength dispersive spectral collector to the energy/wavelength of a selected one of the candidate elements — preferably one whose presence in the sample has been verified, or one which has a high likelihood of being present in the sample - and then varying the alignment of the wavelength dispersive spectral collector versus the sample until the wavelength dispersive spectral collector returns the maximum intensity reading for the selected candidate element. Intensity readings for the other candidate elements can then be collected at this optimized alignment.
(FR)L'invention concerne un spectroscope à rayons X qui collecte un spectre de dispersion d'énergie depuis un échantillon analysé, et génère une liste d'éléments candidats qui peuvent être présents dans l'échantillon. Un collecteur spectral à dispersion de longueurs d'onde est ensuite réglé pour obtenir des mesures d'intensité de rayons X au niveau des énergies/longueurs d'onde de certains ou de la totalité des éléments candidats, en vérifiant ainsi si ces éléments candidats sont ou non en fait présents dans l'échantillon. De plus, l'alignement du collecteur spectral à dispersion de longueurs d'onde par rapport à l'échantillon peut être optimisé en ajustant le collecteur spectral à dispersion de longueurs d'onde à l'énergie/la longueur d'onde d'un sélectionné des éléments candidats, de préférence un dont la présence dans l'échantillon a été vérifiée, ou un qui a une probabilité élevée de présence dans l'échantillon, et en modifiant ensuite l'alignement du collecteur spectral à dispersion de longueurs d'onde par rapport à l'échantillon jusqu'à ce que le collecteur spectral à dispersion de longueurs d'onde retourne à la lecture d'intensité maximum pour l'élément candidat sélectionné. Des lectures d'intensité pour les autres éléments candidats peuvent ensuite être collectées à cet alignement optimisé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)