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1. (WO2010017065) DÉPLACEMENT DE CAPACITÉ ET DÉTECTEUR DE ROTATION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/017065    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/051988
Date de publication : 11.02.2010 Date de dépôt international : 28.07.2009
CIB :
H01J 37/26 (2006.01), H01J 37/244 (2006.01)
Déposants : THE REGENTS OF THE UNIVERSITY OF CALIFORNIA [US/US]; 1111 Franklin Street 12th Floor Oakland, CA 94607-5200 (US) (Tous Sauf US).
DUDEN, Thomas [DE/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : DUDEN, Thomas; (US)
Mandataire : GALLAGHER, Peter, A.; (US)
Données relatives à la priorité :
61/086,061 04.08.2008 US
Titre (EN) CAPACITANCE DISPLACEMENT AND ROTATION SENSOR
(FR) DÉPLACEMENT DE CAPACITÉ ET DÉTECTEUR DE ROTATION
Abrégé : front page image
(EN)A position measuring sensor formed from opposing sets of capacitor plates measures both rotational displacement and lateral displacement from the changes in capacitances as overlapping areas of capacitors change. Capacitances are measured by a measuring circuit. The measured capacitances are provided to a calculating circuit that performs calculations to obtain angular and lateral displacement from the capacitances measured by the measuring circuit.
(FR)Un détecteur de mesure de position formé à partir d’ensembles opposés de plaques de condensateur mesure à la fois le déplacement rotationnel et le déplacement latéral à partir des changements de capacités à mesure que les zones des condensateurs se chevauchant changent. Les capacités sont mesurées à l’aide d’un circuit de mesure. Les capacités mesurées sont fournies à un circuit de calcul qui effectue des calculs en vue d’obtenir un déplacement angulaire et latéral à partir des capacités mesurées par le circuit de mesure.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)