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1. (WO2010014609) PROCÉDÉS INFORMATIQUES, SUPPORT LISIBLE PAR ORDINATEUR ET SYSTÈMES POUR CLASSER DES DÉFAUTS DÉTECTÉS DANS UNE ZONE DE DISPOSITIF MÉMOIRE DANS UNE PLAQUETTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/014609    N° de la demande internationale :    PCT/US2009/051961
Date de publication : 04.02.2010 Date de dépôt international : 28.07.2009
CIB :
G06F 19/00 (2006.01), G06F 11/00 (2006.01)
Déposants : KLA-TENCOR CORPORATION [US/US]; KLA-TENCOR CORPORATION Legal Department One Technology Drive Milpitas, CA 95035 (US) (Tous Sauf US).
CHOI, SunYong [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
PAE, YeonHo [KR/KR]; (KR) (US Seulement).
CHANG, Ellis [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : CHOI, SunYong; (KR).
PAE, YeonHo; (KR).
CHANG, Ellis; (US)
Mandataire : MCANDREWS, Kevin; (US)
Données relatives à la priorité :
61/137,274 28.07.2008 US
Titre (EN) COMPUTER-IMPLEMENTED METHODS, COMPUTER-READABLE MEDIA, AND SYSTEMS FOR CLASSIFYING DEFECTS DETECTED IN A MEMORY DEVICE AREA ON A WAFER
(FR) PROCÉDÉS INFORMATIQUES, SUPPORT LISIBLE PAR ORDINATEUR ET SYSTÈMES POUR CLASSER DES DÉFAUTS DÉTECTÉS DANS UNE ZONE DE DISPOSITIF MÉMOIRE DANS UNE PLAQUETTE
Abrégé : front page image
(EN)Computer-implemented methods, computer-readable media, and systems for classifying defects detected in a memory device area on a wafer are provided.
(FR)L'invention concerne des procédés informatiques, un support lisible par ordinateur et des systèmes pour classer des défauts détectés dans une zone de dispositif mémoire sur une plaquette
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)