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1. (WO2010013593) INSTRUMENT DE MESURE DE DIMENSION POUR MATÉRIAU LONG
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2010/013593    N° de la demande internationale :    PCT/JP2009/062577
Date de publication : 04.02.2010 Date de dépôt international : 10.07.2009
CIB :
G01B 5/08 (2006.01)
Déposants : Sumitomo Metal Industries, Ltd. [JP/JP]; 5-33, Kitahama 4-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410041 (JP) (Tous Sauf US).
TANIDA Mutsumi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
MATSUURA Takashi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
KASA Yasuhisa [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TANIDA Mutsumi; (JP).
MATSUURA Takashi; (JP).
KASA Yasuhisa; (JP)
Mandataire : OHNAKA Minoru; (JP)
Données relatives à la priorité :
2008-195759 30.07.2008 JP
Titre (EN) DIMENSION MEASURING INSTRUMENT FOR LONG MATERIAL
(FR) INSTRUMENT DE MESURE DE DIMENSION POUR MATÉRIAU LONG
(JA) 長尺材の寸法測定装置
Abrégé : front page image
(EN)A dimension measuring instrument (100) comprises an end face copying mechanism (1) which abuts on the end face (E) of a long material (P), a mechanism (2) for measuring the dimension of a long material, and a mechanism (3) for pushing the end face copying mechanism toward the end face of a long material. The end face copying mechanism comprises a plurality of touch sensors for detecting a touch state, and is capable of rotating about two axes intersecting perpendicularly to each other.  The pushing mechanism pushes the end face copying mechanism in order for the plurality of touch sensors to be able to detect the abutting of the end face copying mechanism on the end face of a long material.  The mechanism for measuring the dimension is pushed integrally with the end face copying mechanism and can rotate integrally therewith, and measures the dimension of a long material when the abutting of the end face copying mechanism on the end face of a long material has been detected by the plurality of touch sensors.
(FR)L'invention porte sur un instrument de mesure de dimension (100) comprenant un mécanisme de duplication de face d'extrémité (1) qui vient en butée contre la face d'extrémité (E) d'un matériau long (P), un mécanisme (2) pour mesurer la dimension d'un matériau long, et un mécanisme (3) pour pousser le mécanisme de duplication de face d'extrémité vers la face d'extrémité d'un matériau long. Le mécanisme de duplication de face d'extrémité comprend une pluralité de capteurs de contact pour détecter un état de contact, et est capable de tourner selon deux axes se coupant perpendiculairement entre eux. Le mécanisme de poussée pousse le mécanisme de duplication de face d'extrémité dans le but de permettre à la pluralité de capteurs de contact de détecter la venue en butée du mécanisme de duplication de face d'extrémité contre la face d'extrémité d'un matériau long. Le mécanisme de mesure de dimension est poussé d'un seul tenant avec le mécanisme de duplication de face d'extrémité et peut tourner d'un seul tenant avec celui-ci, et mesure la dimension d'un matériau long lorsque la venue en butée du mécanisme de duplication de face d'extrémité contre la face d'extrémité d'un matériau long a été détectée par la pluralité de capteurs de contact.
(JA) 本発明に係る寸法測定装置100は、長尺材Pの端面Eに当接する端面倣い機構1と、長尺材の寸法を測定する寸法測定機構2と、端面倣い機構を長尺材の端面に向けて押動する押動機構3とを備えている。端面倣い機構は、接触状態を検知する複数の接触センサを具備すると共に、互いに直交する2軸周りに回動可能とされている。押動機構は、複数の接触センサによって端面倣い機構が長尺材の端面に当接していることが検知される状態となるように、端面倣い機構を押動する。寸法測定機構は、端面倣い機構と一体的に押動され且つ一体的に回動可能であると共に、複数の接触センサによって端面倣い機構が長尺材の端面に当接していることが検知されている場合に、長尺材の寸法を測定する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PE, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)